Влияние кислородных преципитатов на темновой ток кремниевых фотодиодов (2023)

Проведено сравнение распределений темновых токов, времени жизни неосновных носителей заряда и микродефектов, выявляемых селективным травлением. Показано, что основной причиной повышенных темновых токов и пониженной фото-чувствительности в кремниевых фотодиодах, изготовленных на кремнии n-типа, изготовленным методом Чохральского, являются генерационно-рекомбинационные процессы на мелких окисных преципитатах.

Издание: Успехи прикладной физики
Выпуск: Том 11 № 6 (2023)
Автор(ы): Вильдяева Мария Николаевна, Демидов Станислав Стефанович, Демидова Юлия Станиславовна, Климанов Евгений Алексеевич, Хлызова Ульяна Дмитриевна, Скребнева Полина Станиславовна
Сохранить в закладках