Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения (2024)
Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.
Издание:
Прикладная физика
Выпуск:
№5 (2024)