Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения (2024)

Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.

A method is proposer for determining the thickness and optical constants of thin layers.
The method is based on the accurate measurement of the angles of incidence of light corresponding to zero reflection in the disturbed total internal reflection scheme.
 

Тип: Статья
Автор (ы): Мошкунов Сергей Игоревич
Соавтор (ы): Филин Сергей Александрович, Хомич Владислав Юрьевич
Ключевые фразы: тонкие пленки.

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535. Оптика
Префикс DOI
10.51368
Текстовый фрагмент статьи