Структурные и оптические свойства InAs/GaSb сверхрешеток, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (2024)

На подложках GaSb (100) получены короткопериодные сверхрешетки InAs/GaSb с компенсацией упругих напряжений, реализованных за счет внедрения интерфейсных слоев In(As)Sb. Структурное совершенство сверхрешеток и отсутствие пластической релаксации подтверждено с помощью ренгеноструктурного анализа и атомно-силовой микроскопии. На основе измерений спектров отражения показано, что край поглощения сверхрешеток расположен в районе 1000 см-1 мкм при температуре 77 К. Совокупность полученных данных демонстрирует возможность применения сверхрешёток с интерфейсной компенсацией напряжений для создания детекторов дальнего ИК-диапазона.

Short-period InAs/GaSb superlattices with elastic stress compensation realized by introducing In(As)Sb interface layers have been obtained on GaSb (100) substrates. The structural perfection of the superlattices and the absence of plastic relaxation were confirmed by X-ray diffraction analysis and atomic force microscopy. Based on reflectance spectra measurements, it is shown that the absorption edge of the superlattice is located in the region of 1000 cm-1 μm at a temperature of 77K. The data obtained demonstrates the possibility of using superlattices with interface strain compensation to create far-IR detectors.

Тип: Статья
Автор (ы): Ерошенко Григорий Николаевич
Соавтор (ы): Минаев Илья Иванович, Клековкин Алексей Владимирович, Муратов Андрей Викторович, Дубовая Анастасия Романовна, Пручкина Анна Артемовна, Николаев Сергей Николаевич
Ключевые фразы: молекулярно-лучевая эпитаксия, атомно-силовая микроскопия, рентгеноструктурный анализ

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
538.958. Оптические свойства и спектры
Префикс DOI
10.51368
Текстовый фрагмент статьи