Архив статей журнала

Повышение точности определения оптических постоянных тонких пленок модифицированным методом нарушенного полного внутреннего отражения (2024)
Выпуск: №5 (2024)
Авторы: Мошкунов Сергей Игоревич, Филин Сергей Александрович, Хомич Владислав Юрьевич

Предложен метод, позволяющий определять толщину и оптические постоянные тонких слоев. В основе метода лежит точное измерение углов падения света, соответствующих нулевому отражению в схеме нарушенного полного внутреннего отражения.

Сохранить в закладках