Научный архив: статьи

Приведены результаты исследований дифференциальной термо-ЭДС и коэффициента Зеебека наноразмерных пленок In2O3/SnO (ITO), полученных методом магнетронного распыления компактной мишени. Показана зависимость коэффициента термо-ЭДС пленок от температуры, а также объяснена ее корреляция с температурной зависимостью электропроводности. Спроектировано автоматизированное устройство для измерения термо-ЭДС пленок и распределения её по их поверхности в диапазоне температур от 300 до 450 К. Полученные результаты позволяют спрогнозировать возможность дальнейшего применения пленок ITO в электронике.