Читать онлайн

Приведены результаты исследований дифференциальной термо-ЭДС и коэффициента Зеебека наноразмерных пленок In2O3/SnO (ITO), полученных методом магнетронного распыления компактной мишени. Показана зависимость коэффициента термо-ЭДС пленок от температуры, а также объяснена ее корреляция с температурной зависимостью электропроводности. Спроектировано автоматизированное устройство для измерения термо-ЭДС пленок и распределения её по их поверхности в диапазоне температур от 300 до 450 К. Полученные результаты позволяют спрогнозировать возможность дальнейшего применения пленок ITO в электронике.

The results of studies of differential thermo-EMF and Seebeck coefficient of nanosized In2O3/SnO (ITO) films obtained by magnetron sputtering of a compact target are presented. The dependence of the thermoelectric coefficient of films on temperature is shown, and its cor- relation with the temperature dependence of electrical conductivity is explained. An automated device for measuring the thermo-EMF of films and distributing it over the surface of the plate in the temperature range from 300 to 450 K has been designed. The results obtained allow us to predict the possibility of further use of ITO films in electronics.

Ключевые фразы: пленки ito, термо-эдс, коэффициент зеебека, уровень ферми, концен- трация носителей заряда
Автор (ы): Терехова Александра Сергеевна (Terehova A. S.), Зеленский Леонид Андреевич, Смирнов Серафим Всеволодович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
53.083.4. Нулевые методы. Мостовые методы
Для цитирования:
ТЕРЕХОВА А. С., ЗЕЛЕНСКИЙ Л. А., СМИРНОВ С. В. ТЕРМО-ЭДС НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК IN2O3/SNO // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2026. №2
Текстовый фрагмент статьи
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.