Исследование низкотемпературного спекания серебросодержащих паст методом растровой электронной микроскопии (2015)
Методом растровой электронной микроскопии исследованы изменения микроструктуры спеченных слоев серебросодержащих паст в зависимости от температуры процесса спекания (230—270 °С) при заданном давлении прессования, а также в зависимости от давления прессования (10—40 МПа) при заданной температуре спекания. Установлена корреляция полученных результатов с данными электрических измерений.
Издание:
ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА
Выпуск:
№3 (2015)