SCI Библиотека
SciNetwork библиотека — это централизованное хранилище научных материалов всего сообщества... ещё…
SciNetwork библиотека — это централизованное хранилище научных материалов всего сообщества... ещё…
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
В методических рекомендациях даются общие сведения о методе Монте-Карло и данных численного моделирования процесса карбонизации нанокристаллов кремния. Проводится сравнение численных и экспериментальных данных для пористого кремния. Рассматривается термодинамическая модель, учитывающая зависимость температуры плавления от размера кристаллитов, а также постулирующая слой поверхности как переохлажденную жидкость. Методические рекомендации предназначены для преподавателей и студентов технических специальностей.
Приводится сборник задач по курсу общей физики для подготовки к экзамену по физике в рамках ЕГЕ. Предназначено для абитуриентов сдающих ЕГЕ по физике.
Пособие содержит теоретический материал по теории поля с подробным изложением разобранных практических задач. Приведены варианты контрольных работ, а также задач для самостоятельного решения. Рекомендовано для студентов, обучающихся по направлению 280100 «Природообустройство и водопользование». Может быть полезно для студентов, обучающихся по направлению 120700 «Землеустройство и кадастры».
Учебное пособие посвящено физическим и электродинамическим исследованиям многослойных структур методом матрицы. Решены задачи о распространении одномерных и электромагнитных волн при нормальном и наклонном (продольная и поперечная поляризации) падении на структуру, состоящую из произвольного числа сред с различными параметрами. Рассматриваются случаи однонаправленных и встречных волн. Определены матрицы распространения, связи, сопряжения, передачи, найдены амплитуды волн. Приведены зависимости коэффициентов отражения, прохождения и выхода от толщины сред при различных параметрах структуры. Пособие будет полезно студентам и аспирантам физических специальностей университетов и институтов, а также преподавателям, инженерам и научным работникам в области технических наук.
В электронном учебном пособии кратко излагаются основы физики твёрдого тела для изучения на физических или физико-математических факультетах педагогических институтов (университетов). Пособие разработано в соответствии с Государственным образовательным стандартом высшего профессионального образования, утвержденным Министерством образования и науки Российской Федерации в 2005 г. Кроме традиционных тем физики твёрдого тела в пособии рассмотрены такие вопросы, как современные материалы (нанотрубки, графены, высокотемпературные сверхпроводники). Учебное пособие предназначено для студентов и преподавателей физических специальностей вузов.
В учебном пособии приведены теоретические основы проектирования основных устройств на цифровых интегральных микросхемах, основы алгебры логики, минимизация с помощью алгебраических методов, карт Карно, геометрических методов. Рассмотрены базовые элементы цифровой схемотехники на основе ТТЛ-технологии, КМОП-технологии, ЭСЛ-технологии, диодно-транзисторная логика и микросхемы с тремя состояниями. Приведены основные устройства цифровой микросхемотехники на основе триггеров, сумматоров, компараторов, узлов свертки по четности, кодирующих и декодирующих устройств. Рассмотрены счетчики, сумматоры, регистры. Приведены основы проектирования схем на мультиплексорах, рассмотрено применение алгебры логики при проектировании релейных схем.
Подробно изложена теория дифракции света в приближении Френеля применительно к различным преградам. Описывается методика выполнения лабораторных работ, приведены вопросы для самоконтроля, тесты и задачи, компьютерные модели, которые тесно связаны с теоретическим материалом. Предназначено для студентов очного и заочного отделений всех специальностей факультетов автоматики и электронного приборостроения, технической кибернетики и информатики Института радиоэлектроники и телекоммуникаций КАИ.
В учебном пособии представлена современная научная информация о достижениях нанотехнологий в области инструментария и материаловедения. Приводится систематизация материалов нанотехнологий и технологий их получения. Достаточно подробно описываются принципы работы атомно-силового и электронного микроскопов, а также их технические особенности. Описаны основные квантовые эффекты, которые находят свое применение в нанотехнологиях. Кроме этого большое внимание уделяется вопросам будущего применения нанотехнологий в быту и технике. В последних вопросах освещаются достижения российской науки и техники, а также вопросы создания собственного нанотехнологического производства.
Структура и содержание учебного пособия соответствуют ГОС ВПО специальности «Физика». Приводятся классическая и квантовая теории свойств вещества в обобщенном виде. Материал пособия естественно продолжает курс «Физика конденсированного состояния» и изложен в форме, доступной для самостоятельного изучения и получения практических навыков расчета теплофизических параметров вещества. В приложении даны таблицы, содержащие теплофизические параметры металлов в области низких, средних и высоких температур. Предназначено для бакалавров, магистрантов, студентов, аспирантов и специалистов, обучающихся по направлению «Физика».