SCI Библиотека

Все Книги Статьи Препринты Диссертации Патенты Заметки Презентации

Результаты поиска: 101 док. (сбросить фильтры)

Статья: Исследование возможности применения нейронных сетей при определении дефектов полупроводниковых материалов по изображениям растровой электронной микроскопии

нейронные сети, растровая электронная микроскопия, полупроводниковое производство, дефекты.

Исследование посвящено разработке способа обнаружения дефектов в полупроводниковом производстве с помощью нейронных сетей по изображениям , полученным при помощи растрового электронного микроскопа. Проведено исследование метода, позволяющего сократить время обработки полученных изображений при поиске дефектов.

Формат документа: pdf

Год публикации: 2024

Кол-во страниц: 1

Загрузил(а): Малыгин Владислав

Язык(и): Русский, Английский