SciNetwork
  • Поиск
  • Библиотека 589
  • Журналы 17
  • Организации 5
    • Научно-исследовательские
    • Образовательные
    • Издательства
    • Библиотеки
    • Репозитории
  • Конференции
  • Блоги
  • Сообщество
    • Поиск людей
    • Группы
    • Форум
    • Формулы
  • Вход
Найти:
Войти Регистрация
Рабочий стол Мои работы Моя библиотека Мои сообщения Мои контакты Мои группы Мои конференции Мои фотографии Добавить Мои формулы Мой словарь Мои закладки
Чтобы продолжить, войдите в аккаунт или зарегистрируйтесь.
Приложение
на телефон

Малыгин Владислав Анатольевич

Автор
Должность (ВУЗ, НИИ)
Инженер 2 категории
SciID
0000000360
SPIN-код
0000-0074
ОНП
surface roughness, cadmium zinc telluride, шероховатость поверхности, кадмий-цинк-теллур, photosensitive elements, FPA
Заходил
показать
ОНП
surface roughness, cadmium zinc telluride, шероховатость поверхности, кадмий-цинк-теллур, photosensitive elements, FPA
6
работы
2
библиотека
0
блог
0
коммент.
0
группы
0
контакты
Работы Малыгина В. А.: новые поступления
Образование дефектов диэлектрических слоев в процессах диффузии в кремнии
Статья
Образование дефектов диэлектрических сло…
Трансформация планарной контактной системы «припой на слое золота» при прогревах
Статья
Трансформация планарной контактной систе…
Влияние режимов диффузии фосфора на формирование дефектов в окисле
Статья
Влияние режимов диффузии фосфора на форм…
Применение полировальных суспензий на основе поликристаллического алмаза детонационного синтеза в высокопрецизионных процессах обработки соединения кадмий-цинк-теллур
Статья
Применение полировальных суспензий на ос…
Особенности подготовки подложек кадмий-цинк-теллур для выращивания эпитаксиальных слоев соединения кадмий-ртуть-теллур методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Статья
Особенности подготовки подложек кадмий-ц…
Исследование возможности применения нейронных сетей   при определении дефектов полупроводниковых материалов   по изображениям растровой электронной микроскопии
Статья
Исследование возможности применения нейр…
 
Ещё ...
Библиотека Малыгина В. А.: новые поступления
Диэлектрические покрытия на основе Al2O3 и SiOx для фотодиодных матриц из антимонида индия
Статья
Диэлектрические покрытия на основе Al2O3…
Исследование возможности применения нейронных сетей   при определении дефектов полупроводниковых материалов   по изображениям растровой электронной микроскопии
Статья
Исследование возможности применения нейр…
Постов пока нет

Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.

Доступ к этим данным разрешён только авторизованным пользователям.
Написать
Добавить в контакты
Другие действия
Пожаловаться
  • О научной сети
  • Пользовательское соглашение
  • Защита авторских прав
  • Cookies
  • Обратная связь
  • Privacy Policy
Права на оригинальные тексты, а также на подбор и расположение материалов принадлежат проекту SciNetwork, © 2016 — 2025
SciNetwork, © 2025
Функция добавления в закладки доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция отправки личных сообщений доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция оценок доступна только для авторизованных пользователей. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция добавления в контакты доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.