Работы автора

Применение полировальных суспензий на основе поликристаллического алмаза детонационного синтеза в высокопрецизионных процессах обработки соединения кадмий-цинк-теллур (2022)

Приведены результаты исследования поверхности образца кадмий-цинк-теллур после обработки различными суспензиями детонационных алмазных порошков. Показано, что применение полировальных суспензий на основе поликристаллического алмаза детонационного синтеза отечественного производства в части получения качества полированной поверхности не уступает импортным аналогам.

Издание: Успехи прикладной физики
Выпуск: том 10 № 5 (2022)
Автор(ы): Трофимов Александр, Денисов Игорь Андреевич, Косякова Анастасия Михайловна, Малыгин Владислав Анатольевич, Улькаров Вадим Айратович, Ухабин Олег Александрович, Смирнов Александр Сергеевич, Курепин Сергей Александрович
Сохранить в закладках
Особенности подготовки подложек кадмий-цинк-теллур для выращивания эпитаксиальных слоев соединения кадмий-ртуть-теллур методом молекулярно-лучевой эпитаксии (2022)

Твердый раствор кадмий-ртуть-теллур является в мире одним из основных материалов ИК-фотоэлектроники. Метод молекулярно-лучевой эпитаксии обладает рядом преимуществ перед другими методами получения соединения кадмий-ртуть-теллур. Вместе с тем он достаточно требователен к подготовке подложек, предназначенных для ростовых процессов. Настоящая работа посвящена первичной отработке процессов полирования в освоении производства подложек кадмий-ртуть-теллур ориентации (211). Достигнутая шероховатость составила  1 нм.

Издание: Успехи прикладной физики
Выпуск: том 10 № 3 (2022)
Автор(ы): Трофимов Александр, Косякова Анастасия Михайловна, Малыгин Владислав Анатольевич, Суханова Анна Сергеевна, Денисов Игорь Андреевич, Смирнова Наталья Анатольевна
Сохранить в закладках
Исследование возможности применения нейронных сетей при определении дефектов полупроводниковых материалов по изображениям растровой электронной микроскопии (2024)

Исследование посвящено разработке способа обнаружения дефектов в полупроводниковом производстве с помощью нейронных сетей по изображениям , полученным при помощи растрового электронного микроскопа. Проведено исследование метода, позволяющего сократить время обработки полученных изображений при поиске дефектов.

Издание: Прикладная физика
Выпуск: № 2 (2024)
Автор(ы): Малыгин Владислав Анатольевич, Попов Виктор, Баженов Константин Эдуардович, Засядко Татьяна Алексеевна
Сохранить в закладках