Разработана методика определения фрактальной размерности картин фотоиндуцированного рассеяния света (ФИРС). Исследована динамика проявления лазерно-индуцированных дефектов в слоях картин ФИРС стехиометрических монокристаллов ниобата лития различного генезиса посредством анализа фрактальной размерности слоев картин ФИРС. Проведено сравнение данных о лазерно-индуцированных дефектах, полученных методом фрактального анализа слоев ФИРС с данными, полученными методом измерения угла раскрытия индикатрисы ФИРС.
Целью работы является исследование структурных параметров фазы 1-2-3 прецизионным рентгенодифракционным методом. Проведено уточнение состава и структурных параметров до фактора расходимости R = 0,008. Состав вещества может быть выражен формулой. Более высокие значения среднеквадратичных амплитуд колебаний атомов и анизотропии колебаний получены для Си1 и О1, находящихся в базисной плоскости z = 0. Сопоставление с данными, полученными при низких температурах, позволяет предположить, что высокая подвижность Си1 и О1 связана со статическими смещениями атомов из своих кристаллографических позиций. Имеется корреляция между отклонением от стехиометрии по кислороду, периодом решетки с и величиной температуры сверхпроводящего перехода Tc. Увеличение содержания кислорода сопровождается повышением Tc. Построены зависимости изотропных среднеквадратичных амплитуд колебаний атомов-компонент соединений от содержания кислорода. Для атома О1 в тетрагональной фазе наблюдается заметный рост среднеквадратичных амплитуд колебаний с возрастанием кислородного индекса, что может быть связано с увеличением неустойчивости структуры. Можно заключить, что анализ прецизионных дифракционных исследований оксидов иттрия-бария-меди позволяет выявить структурные особенности, обусловливающие нестабильность этого класса материалов