В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
В пособии особое внимание уделено структуре, свойствам, технологии и применению основных видов наноструктурных материалов конструкционного и функционального назначения. Освещены общие вопросы физики и химии нанопорошков и наноматериалов. Рассмотрены также некоторые виды слоистых наноматериалов и наноструктурированных покрытий. Представлены данные исследований в области кластеров, нанотрубок и наноустройств.
Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150600 «Материаловедение и технология новых материалов», магистерской программе 150614 «Материаловедение и технологии наноматериалов и покрытий».
В работе излагается методика проведения испытаний, основные типы образцов, принцип работы испытательной машины. Даётся описание диаграмм растяжения и сжатия различных видов материалов, а также определение их основных механических характеристик. Приводится понятие о наклёпе, об условном пределе текучести.