Книга: Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.

Для студентов и преподавателей технических вузов.

Информация о документе

Формат документа
PDF, DJVU
Кол-во страниц
224 страницы
Загрузил(а)
Лицензия
Доступ
Всем

Информация о книге

ISBN
9785020348110
Издательство
ИЗДАТЕЛЬСТВО НАУКА
Год публикации
2007
Автор(ы)
В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов
Библиографическая запись

Батаев В. А.

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов. - 2-е изд. - М.: Флинта: Наука, 2007. - 224 c.

ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта)

SBN 978-5-02-034811-0 (Наука)

Каталог SCI
Машиностроение