Книга: Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Информация о документе
- Формат документа
- PDF, DJVU
- Кол-во страниц
- 224 страницы
- Загрузил(а)
- Лицензия
- —
- Доступ
- Всем
Информация о книге
- ISBN
- 9785020348110
- Издательство
- ИЗДАТЕЛЬСТВО НАУКА
- Год публикации
- 2007
- Библиографическая запись
-
Батаев В. А.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов. - 2-е изд. - М.: Флинта: Наука, 2007. - 224 c.
ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта)
SBN 978-5-02-034811-0 (Наука)
- Каталог SCI
- Машиностроение