Проанализирована возможность увеличения квантового выхода на порядок и больше в структуре металл-полупроводник-металл за счет лавинного умножения фотогенерированных носителей в слое полупроводника при одновременном подавлении туннельного тока путем оптимального выбора толщины полупроводника
Possibility of quantum yield increasing by order and more in M-S-M structure by avalanche multiplication of photogenerated carriers in semiconductor layer is analysed. It is shown that simultaneously one can get depression of tunnel current by means of semiconductor layer width optimal choice.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.