Статья: Оптимизация отношения сигнал/шум КРТ фотоприемных устройств на базе прямоинжекционной микросхемы считывания (2016)

Читать онлайн

Представлена модель для расчета отношения сигнал/шум КРТ ФПУ на базе канала считывания фотосигнала с прямоинжекционным входным каскадом, работающего в ITR и IWR режимах. Модель позволяет рассчитать и оптимизировать шумовые характеристики ФПУ при наличии экспериментальных параметров фотодиода и характеристик кремниевой технологии изготовления микросхемы считывания. В модели учтены следующие механизмы шума: дробовой шум фотодиода, обусловленный флуктуациями потока излучения и темнового тока; тепловые шумы фотодиода и основных узлов канала считывания; шумы сброса; 1/f-шумы фотодиода и основных узлов канала считывания. Также в модели учитывается эффективность инжекции фототока и влияние паразитных емкостей шин мультиплексирования.

The analytical model for evaluation of the signal-to-noise ratio for the MCT FPA based on direct injection readout channel operation in the ITR and IWR modes is presented. The considered readout channel consists of the direct injection MOS, storage and sample capacitors, column and output charge sensitive amplifiers. The proposed model includes contributions of shot, thermal and 1/f noise of photodiode, thermal and 1/f noise of the main parts of the ROICs, and reset noise. The model takes into account the injection efficiency of the photocurrent and the influence of parasitic capacitances of multiplexing buses.

Ключевые фразы: имсс, зарядочувствительный усилитель, эффективность инжекции, сигнал, шум, осш, КРТ, iwr
Автор (ы): Дворецкий Сергей Алексеевич, Зверев Алексей Вкиторович, Макаров Юрий Сергеевич, Михантьев Евгений Анатольевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
eLIBRARY ID
27634003
Для цитирования:
ДВОРЕЦКИЙ С. А., ЗВЕРЕВ А. В., МАКАРОВ Ю. С., МИХАНТЬЕВ Е. А. ОПТИМИЗАЦИЯ ОТНОШЕНИЯ СИГНАЛ/ШУМ КРТ ФОТОПРИЕМНЫХ УСТРОЙСТВ НА БАЗЕ ПРЯМОИНЖЕКЦИОННОЙ МИКРОСХЕМЫ СЧИТЫВАНИЯ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2016. №6
Текстовый фрагмент статьи