Статья: Фотоответ дефектных фотоэлементов в матричных КРТ-фотоприёмниках с anti-debiasing подслоем (2016)

Читать онлайн

Изучено влияние anti-debiasing подслоя на электрические характеристики и фотоответ дефектных и недефектных фотоэлементов в длинноволновых фотоприёмных устройствах (ФПУ) на основе материала кадмий-ртуть-теллур. Показано, что наиболее ярким следствием наличия в структуре фотоэлементов матрицы паразитного диода с p–n-переходом на границе фоточувствительной плёнки с anti-debiasing подслоем является возникновение отрицательного фотоответа дефектных фотоэлементов ФПУ.

Impact of anti-debiasing sublayer (ADS) on the photoresponse of focal plane array (FPA) elements in mercury-cadmium-tellurium based photovoltaic infrared FPA detectors is analyzed via consideration of measured current-voltage characteristics of FPA elements with “leaking” and “non-leaking” array photodiodes and spatial photoresponse profiles measured using FPA elements of both types. A most pronounced manifestation of the parasitic diode with the p–n junction at the photosensing film/ADS interface consists in the emergence of negative photoresponses produced by the “leaking” FPA elements.

Ключевые фразы: матричные ик-фотоприёмники, материал кадмий-ртуть-теллур, КРТ, вольт-амперные характеристики, профиль фотосигнала, фотодиод, anti-debiasing подслой
Автор (ы): Васильев Владимир Васильевич, Вишняков Алексей Витальевич, Дворецкий Сергей Алексеевич, Дворецкий Сергей Алексеевич, Предеин Александр Владиленович, Сабинина Ирина Викторовна, Сидоров Юрий Георгиевич, Стучинский Виктор Андреевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
53. Физика
eLIBRARY ID
27634002
Для цитирования:
ВАСИЛЬЕВ В. В., ВИШНЯКОВ А. В., ДВОРЕЦКИЙ С. А., ДВОРЕЦКИЙ С. А., ПРЕДЕИН А. В., САБИНИНА И. В., СИДОРОВ Ю. Г., СТУЧИНСКИЙ В. А. ФОТООТВЕТ ДЕФЕКТНЫХ ФОТОЭЛЕМЕНТОВ В МАТРИЧНЫХ КРТ-ФОТОПРИЁМНИКАХ С ANTI-DEBIASING ПОДСЛОЕМ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2016. №6
Текстовый фрагмент статьи