При помощи подходов, характерных для математического моделирования, рассматриваются некоторые проявления экситонных поляритонов, образующихся в результате взаимо действия световой волны с микрорезонатором, содержащим квантовые ямы в AlGaN микрополости. Методом матриц переноса получены электрическое поле световой волны в микрорезонаторе и угловая дисперсия поляритонных веток.
By means of mathematical modeling approaches, some exitonic polaritons which are showing as a result of interaction between a light wave and the microresonator, containing quantum wells in a AlGaN microcavity are considered. With using a transverse matrix method electrical fi eld of light wave in microresonator and refl ectivity spectrum were computed.
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
При помощи математического моделирования с использованием метода матриц переноса получена угловая дисперсия энергетического коэффициента отражения для микрорезонатора, содержащего AlGaN/GaN-квантовые ямы в AlGaN-микрополости. При расчётах были использованных электрофизические параметры слоёв гетероструктуры, характерные для реальных полупроводниковых и диэлектрических материалов. Анализ результатов проведённого моделирования показал, что взаимодействие поляризованной в поперечном направлении световой волны с экситонами в квантовых ямах ведёт к образованию в спектре отражения двух особенностей, характерных для проявления экситонных поляритонов, поэтому микрорезонаторы такого состава могут быть использованы для экспериментального исследования поляритонных эффектов и экситонов в квантовых ямах.
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.
Список литературы
1. Malpuech G., Kavokin A., Laussy F.P. // Phys. Status Solidi A. 2003. V. 195. P. 568.
2. Zamfi rescu M., Kavokin A, Gil B. et al. // Phys. Rev. B. 2002. V. 65. P. 1205.
3. Sturm C., Hilmer H., Schmidt-Grund R., Grundmann M. // New J. Phys. 2009. V. 11. P. 3.
4. Виноградов Е.А. // УФН. 2002. Т. 172. № 12. С. 1371
5. Kavokin A. // Appl. Phys. A. 2007. V. 89, P. 241
6. Kavokin A., Malpuech G. Cavity Polaritons. Academic Press, 2003.
7. Malpuech G., Kavokin A., Di Carlo A., Baumberg J.J., // Phys. Rev. B. 2002. V. 65, No. 15. P. 3310.
8. Laussy F.P., Malpuech G., Kavokin A., Bigenwald P. // Phys. Rev. Lett. 2004. V. 93, No. 01. P. 6402.
9. Christopoulos S., G. von Högersthal B., Grundy A.J.et al. // Phys. Rev. Lett. 2007. V. 98, No. 12. P. 6405
10. Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T. и др. // Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С. 1082
11. Born M., Wolf E. Principles of Optics: Electromagnetic Theory of Propagation, Interference and Diffraction of Light. 6th ed. Pergamon Press, 1994.
12. Ивченко Е.Л., Кавокин А.В. // ФТТ. 1992. T. 34. C. 815.
13. Ивченко Е.Л., Несвижский А.И., Йорда С. // ФТТ. 1994. Т. 36. С. 2118.
14. Handbook of Optics: Devices, Measurements, and Properties, 2nd edition, V. 2. McGraw-Hill, 1994.
15. Handbook of Optics: Optical properties of materials, nonlinear optics, quantum optics, 3rd edition, V. 4. McGraw-Hill, 2009.
16. Morkoç H. Handbook of Nitride Semiconductors and Devices: GaN-based optical and electronic devices. V. 3. Wiley-VCH, 2008.
17. Skolnick M.S., Fisher T.A., Whittaker D.M. // Semiconductor Science and Technology. 1998. V. 13. No. 7. P. 645
Выпуск
Другие статьи выпуска
Для одновременной фокусировки приосевых и удаленных от оси пучков заряженных частиц предложена и теоретически исследована электростатическая линза, состоящая из набора коаксиальных цилиндрических электродов. Численно рассчитаны параметры такой комбинированной линзы. Выигрыш в интенсивности пучка по сравнению с широко используемой одиночной осесимметричной линзой возрастает в несколько раз.
Приведены результаты разработки ультрафиолетового объектива, построенного на основе двух склеенных компонентов. Объектив обладает достаточно высоким качеством изображения и предназначен для использования в оптико-электронных приборах, построенных на основе матричных фотоприемников формата 320×256 с шагом 30 мкм. В статье также приведены результаты измерения пятна рассеяния объектива.
Приведено описание введенного в эксплуатацию экспериментального комплекса HVEE- 500 НИИЯФ МГУ, позволяющего исследовать поверхности и тонкие пленки с разрешением по глубине вплоть до 1─2 монослоев. В комплексе предусмотрена возможность проведения in situ экспериментов по взаимодействию ионных пучков с покрытиями и исследования их с применением ионно-пучковых методик. Имплантация ионов от 1 до 250 атомной единицы массы проводится в мишени с размерами до 150х150 мм с однородностью дозы по этой площади не хуже 99%.
В статье рассматривается принцип работы и конструкция диффузионного источника ионов натрия на базе разрядной трубки натриевой лампы высокого давления типа Днат- 400. Созданный источник ионов натрия может найти применение в технике физического эксперимента, в разборных конструкциях электровакуумных приборов. Он прост по конструкции, экономичен и допускает развакуумирование вакуумной системы.
Представлены результаты определения химического состава плазменных струй тлеющего разряда атмосферного давления на постоянном токе в различных газовых смесях методами эмиссионной и абсорбционной спектроскопии и их инактивационного воздействия на поверхность агаризованной питательной среды, контаминированной бактериями Staphylococcus aureus.
В рассматриваемой работе приводятся результаты экспериментальных исследований формирования и развития ударных волн как при наличии внешнего продольного магнитного поля, так и без него, а также результаты влияния продольного магнитного поля на стадию сверхзвукового расширения искрового канала в аргоне атмосферного давления в коротких межэлектродных промежутках. Показано, что наложение магнитного поля приводит к заметному уменьшению скорости расширения плазменной области.
С использованием секционированного анода в геометрии острие-плоскость исследован радиальный профиль плотности тока отрицательной короны в аргоне. Экспериментально обнаружено сужение радиального распределения тока по аноду и уменьшение светового диаметра у анода с ростом тока короны. Получена параболическая аппроксимация для вольтамперной характеристики отрицательной короны в аргоне, с учетом экспериментально обнаруженного сужения токового сечения на аноде с ростом тока короны.
В работе представлены результаты математического моделирования параметров плаз- мы индуктивного ВЧ разряда в аргоне PIC методом в диапазоне давлений 1мТор — 1Тор. Показано, что при низких давлениях в области скин-слоя азимутальное поле осциллирует на основной частоте со средним значением равным нулю, в то время как радиальное поле имеет отличную от нуля постоянную составляющую. Осцилляции азимутального электрического поля приводят к формированию пучка электронов, азимутальная скорость которого осциллирует со временем, достигая максимума дважды за период.
В работе представлены результаты экспериментального исследования эффективной температуры и концентрации электронов в области скин-слоя индуктивного ВЧ-разряда в инертных газах. Диапазон рассмотренных давлений 0.3─1000 мТорр. Результаты измерений проявили немонотонную зависимость параметров плазмы от давления. Показано, что при давлениях, соответствующих минимуму электронной температуры, частота упругих столкновений в аргоне и криптоне ниже, чем в гелии, вследствие эффекта Рамзауэра.
В настоящее время растёт интерес к протонным проводникам и полупроводникам, поскольку самым безопасным и легко управляемым способом транспорта водорода является протонный перенос в твердотельных протонных проводниках. Достаточно полно исследован протонный транспорт в твёрдых электролитах, но диапазон исследованных кристаллических диэлектриков небольшой. Особенно актуальным представляется разработка способов получения и диагностики протонных проводников и полупроводников с заданными свойствами.
Представлена и численно исследована модель релаксации фотопроводимости пористого кремния, в которой учитывается рекомбинация фотоносителей на поверхности цилиндрических пор при синусоидально модулированном потоке света. Методом конечных элементов рассчитана частотная зависимость фотопроводимости пористого кремния и зависимость частоты модуляции света, при которой переменная составляющая фотопроводимости уменьшается вдвое при увеличении скорости поверхностной рекомбинации, а также при изменении радиуса пор и среднего расстояния между ними.
Представлены результаты исследования морфологии поверхности эпитаксиальных пленок Pb1-xSnxSe (x = 0,07), полученные различными методами термического напыления (метод конденсации молекулярных пучков и горячей стенки), в корреляции с электрофизическими свойствами и проведено сравнение с другими АIVBVI. Установлено, что образование черных скоплений на поверхности эпитаксиальных пленок характерно для халькогенидов АIVBVI и морфология поверхности сильно влияет на электрофизические свойства.
Исследованы характеристики матричных фотоприемных устройств формата 320×256 элементов с шагом 30 мкм на основе InGaAs, чувствительных в спектральном диапазоне 0,9─1,7 мкм. Матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) изготавливались по планарной и мезатехнологии. Измерены распределения темнового тока и спектральные характеристики фоточувствительности МФЧЭ при комнатной температуре и температуре охлаждения минус 20 °C. Получены тепловизионные изображения в режиме реального времени
В работе представлено описание теоретической модели расчёта спектров фотолюминесценции структур на основе CdxHg1-xTe (КРТ), выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) и содержащих потенциальные и квантовые ямы (КЯ). В основу модели положен расчёт зонной диаграммы посредством самосогласованного решения уравнений Пуассона и Шрёдингера. Особенностью представленной модели является, в частности, то, что при расчётах была учтена зависимость электронного сродства от состава КРТ.
Издательство
- Издательство
- АО "НПО "ОРИОН"
- Регион
- Россия, Москва
- Почтовый адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- Юр. адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- ФИО
- Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
- E-mail адрес
- orion@orion-ir.ru
- Контактный телефон
- +7 (499) 3749400