Статья: Исследование структурных неоднородностей карбида кремния методом малоуглового рентгеновского рассеяния (2014)

Читать онлайн

Методом малоуглового рентгеновского рассеяния исследована наноструктура кристаллов карбида кремния. Детальный анализ индикатрис рассеяния позволил установить наличие структурных неоднородностей в виде точечных дефектов, линейных и объемных фракталов. Характерной особенностью кристаллов является отсутствие фрактальных поверхностей раздела рассеивающих образований и агрегатов.

The nanostructure of silicon carbide crystals was investigated by small-angle X-ray scattering method. The presence of structural inhomogeneity’s in the form of point defects, linear and volumetric fractals, fractal interfaces absence of scattering formations and units was showed.

Ключевые фразы: карбид кремния, малоугловое рассеяние, фрактальная размерность, структурные неоднородности
Автор (ы): Логунов Михаил Владимирович, Неверов Вячеслав Александрович, Мамин Бари Фяттяхович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
538.971. Физика поверхностей и границ раздела (включая эмиссию и столкновение)
eLIBRARY ID
22508101
Для цитирования:
ЛОГУНОВ М. В., НЕВЕРОВ В. А., МАМИН Б. Ф. ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ КАРБИДА КРЕМНИЯ МЕТОДОМ МАЛОУГЛОВОГО РЕНТГЕНОВСКОГО РАССЕЯНИЯ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2014. №5
Текстовый фрагмент статьи