Статья: Аналогии между экзоэлектронной фотоэмиссией и вторично-ионным фотоэффектом в полупроводниках (2014)

Читать онлайн

Ранее нами было показано, что увеличение выхода вторичных ионов из полупроводника при подсветке связано с раскачкой кристаллической решетки за счет энергии рекомбинирующих электронно-дырочных пар в узкозонной фазе. Применение подобных рассуждений к электронному газу в полупроводниках наводит на мысль о возможности туннельной фотоэмиссии электронов под действием плазменного резонанса в ближней и средней инфракрасной области спектра. Необходимый рельеф поверхности может быть обеспечен в гетерофазных радиационно-стойких пленках типа CdS-PbS.

Earlier we have shown that the increase in yield of secondary ions from a semiconductor at illumination is connected with a loosening of the crystal lattice due to the energy of recombinating electron-hole pairs in the narrow-band phase. Application of similar reasoning to electronic gas in semiconductors suggests about a possibility of the tunnel photoemission of electron under the influence of a plasma resonance in the near and middle infrared spectral region. The necessary relief of the surface can be provided in heterophase radiation-resistant films like CdS-PbS.

Ключевые фразы: вторично-ионный фотоэффект, гетерофазный пленочный полупроводник типа cds-pbs, туннельная электронная фотоэмиссия, плазменный резонанс, характеристические потери электронов
Автор (ы): Роках Александр Григорьевич, Шишкин Михаил Игоревич, ВЕНИГ СЕРГЕЙ БОРИСОВИЧ, Матасов Максим Дмитриевич, Аткин Всеволод Станиславович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383.4. Фотоэлементы с внутренним фотоэффектом. Фоторезисторы
eLIBRARY ID
22508100
Для цитирования:
РОКАХ А. Г., ШИШКИН М. И., ВЕНИГ С. Б., МАТАСОВ М. Д., АТКИН В. С. АНАЛОГИИ МЕЖДУ ЭКЗОЭЛЕКТРОННОЙ ФОТОЭМИССИЕЙ И ВТОРИЧНО-ИОННЫМ ФОТОЭФФЕКТОМ В ПОЛУПРОВОДНИКАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2014. №5
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)