Проведено исследование основных причин возникновения фотодиодов с токами утечки в МФПУ на основе антимонида индия. На большом объеме МФЧЭ установлена связь одноточечной дефектности с напряжением пробоя, диффузионной длиной, концентрацией основных носителей и плотностью дислокаций. Представлены характерные распределения дефектности по пластинам антимонида индия. Показано влияние на дефектность качества обработки пластин после резки слитков и погрешностей технологии изготовления.
In paper the causes of photodiodes defectiveness of a large format InSb focal plane arrays consisting, basically, from current leakages have been investigated. Currently achieved level of InSb FPA 320256 defectiveness is about 0.1—0.3 %, mainly due to the semiconductor material and its processing.
Large volume of produced FPA has allowed collecting statistical data which formed the basis of this paper in which frameworks parameters of matrix photodiodes (MPD) from InSb nine ingots are investigated.
Correlation founded: if the wafer not holds back voltage, also defectiveness on it above. The ingot with low concentration of ~1014 sm-3 and dislocations low density has appeared with the minimum average defectiveness by results of bonding with a ROIC. MPD produced of one ingot and from the adjacent wafers have shown a large difference in defectiveness that it is logical to explain influence of wafers processing after is sawing.
The images obtained by summing the individual defects only on thick base and after thinning have shown sufficient uniform distribution over the area that indicating a lack of process thinning influence on defectiveness. The images obtained by summing defective clusters (that is all defects, except individual) have shown allocation of corners that is connected with edge effects: unbonding and an overclamping indium bumps after bonding in corners, cracks along the edges after thinning, etc.
Thus, the main causes of leakage currents from the photodiodes had appeared:
- Dislocation density of initial InSb ingots;
- The quality of wafers processing after is sawing ingots;
- Errors of MPD producing technology (usually formed defects clusters).
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 22273866
Одноточечная дефектность растет с уменьшением диффузионной длины, с увеличением концентрации основных носителей и увеличением плотности дислокаций, что подтверждает связь одноточечной дефектности с материалом исходных слитков.
Таким образом, основными причинами возникновения фотодиодов с токами утечки являются:
– плотность дислокаций исходных слитков антимонида индия; – качество обработки пластин после резки слитков;
– погрешности технологии изготовления МФЧЭ, вследствие чего, как правило, образуются дефектные кластеры.
Список литературы
1. Болтарь К. О., Власов П. В., Лопухин А. А. и др. // Успехи прикладной физики. 2013. Т. 1. № 6. С. 733.
2. Болтарь К. О., Власов П. В., Лопухин А. А. и др. // Прикладная физика. 2013. № 6. С. 67.
3. Болтарь К. О., Киселева Л. В., Лопухин А. А. и др. Способ изготовления матричного фотоприемника (варианты). Патент РФ № 2460174. 2012.
4. Способ изготовления матричного фотоприемника. Патент на изобретение РФ № 2343590.
5. Соляков В. Н., Корнеева М. Д., Кортиков М. В. и др. // Прикладная физика. 2011. № 4. C. 96.
6. Болтарь К. О., Корнеева М. Д., Мезин Ю. С. и др. // Прикладная физика. 2011. № 1. C. 96.
7. Кардонов Н. В., Климанов Е. А., Ляликов А. В. и др. // Прикладная физика. 2012. № 3. С. 66.
8. Дирочка А. И., Климанов Е. А., Мезин Ю. С. и др. // Успехи прикладной физики. 2013. Т. 1. № 1. С. 65.
9. Хромов С. С., Зайцев А. А. // Прикладная физика. 2011. № 2. C. 100.
10. Кузнецов П. А., Хромов С. С. // Успехи прикладной физики. 2013. Т. 1. № 3. C. 321.
1. K. O. Boltar, P. V. Vlasov, A. A. Lopukhin, et al., Uspekhi Prikladnoi Fiziki 1, 733 (2013).
2. K. O. Boltar, P. V. Vlasov, A. A. Lopukhin, et al., Prikladnaya Fizika, No. 6, 67 (2013).
3. K. O. Boltar, L. V. Kiseleva, A. A. Lopukhin, et al., RF Patent No. 2460174. (2012).
4. RF Patent No. 2343590.
5. V. N. Solyakov, M. D. Korneeva, M. V. Kortikov, et al., Prikladnaya Fizika, No. 4, 96 (2011).
6. K. O. Boltar, M. D. Korneeva, Yu. S. Mezin, et al., Prikladnaya Fizika, No. 1, 96 (2011).
7. N. V. Kardonov, E. A. Klimanov, A. V. Lyalikov, et al., Prikladnaya Fizika, No. 3, 66 (2012).
8. A. I. Dirochka, E. A. Klimanov, Yu. S. Mezin, et al., Uspekhi Prikladnoi Fiziki 1, 65 (2013).
9. S. S. Khromov and A. A. Zaitsev, Prikladnaya Fizika, No. 2, 100 (2011).
10. P. A. Kuznetsov and S. S. Khromov, Uspekhi Prikladnoi Fiziki 1, 321 (2013).
Выпуск
С О Д Е Р Ж А Н И Е
ОБЩАЯ ФИЗИКА
Голятина Р. И., Майоров С. А. Расчет характеристик переноса электронов в смеси гелия с ксеноном 5
Анпилов А. М., Бархударов Э. М., Коссый И. А., Лукьянчиков Г. С., Мисакян М. А., Моряков И. В. Тонкая наноструктурированная углеродная плёнка на поверхности металла как способ предотвращения мультипакторного разряда 11
Морозов А. Н., Скрипкин А. В. Диффузия ионов в электролите под действием случайного тока 16
ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
Василяк Л. М., Ветчинин С. П., Панов В. А., Печеркин В. Я., Сон Э. Е. Электрический пробой при растекании импульсного тока в песке 20
Андреев С. Е., Ульянов Д. К. Метод управления спектром плазменного релятивистского СВЧ-генератора в частотно-периодическом режиме 26
Богачев Н. Н., Богданкевич И. Л., Гусейнзаде Н. Г. Моделирование режимов работы плазменной антенны 30
Герман В. О., Глинов А. П., Головин А. П., Козлов П. В. О влиянии внешнего магнитного поля на устойчивость электродугового разряда 35
Боровской А. М. Моделирование течения газа с учётом нагрева в цилиндрических каналах высоковольтных плазмотронов переменного тока 40
ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
Болтарь К. О., Власов П. В., Ерошенков В. В., Лопухин А. А. Исследование фотодиодов c токами утечки в матричных фотоприемниках на основе антимонида индия 45
Седнев М. В., Болтарь К. О., Шаронов Ю. П., Лопухин А. А. Ионно-лучевое травление для формирования мезаструктур МФПУ 51
Войцеховский А. В., Несмелов С. Н., Дзядух С. М., Васильев В. В., Варавин В. С., Дворецкий С. А., Михайлов Н. Н., Кузьмин В. Д., Ремесник В. Г., Сидоров Ю. Г. Исследование полной проводимости МДП-структур на основе варизонного МЛЭ n-HgCdTe (x = 0,22—0,23 и 0,31—0,32) в широком диапазоне температур 56
Войцеховский А. В., Несмелов С. Н., Дзядух С. М., Васильев В. В., Варавин В. С., Дворецкий С. А., Михайлов Н. Н., Кузьмин В. Д., Ремесник В. Г., Сидоров Ю. Г. Особенности адмиттанса МДП-структур на основе варизонного МЛЭ p-HgCdTe (x = 0,22—0,23) 62
Демидов С. С., Климанов Е. А. Влияние параметров границы раздела полупроводник-диэлектрик на ток охранного кольца кремниевых фотодиодов 68
Демидов С. С., Климанов Е. А., Нури М. А. Кремниевый координатный фотодиод с улучшенными параметрами 73
Кашуба А. С., Головин С. В., Болтарь К. О., Пермикина Е. В., Атрашков А. C. Исследование влияния термообработки на электрофизические характеристики эпитаксиальных слоев гетероструктур теллурида кадмия-ртути 76
Бурлаков И. Д., Денисов И. А., Сизов А. Л., Силина А. А., Смирнова Н. А. Исследование шероховатости поверхности подложек CdZnTe различными методами измерения нанометровой точности 80
Костюк Б. А., Варавин В. С., Парм И. О., Ремесник В. Г., Сидоров Г. Ю. Влияние плазмохимического травления и последующего отжига на электрофизические свойства CdHgTe 85
Андреев Д. С., Гришина Т. Н., Мищенкова Т. Н., Тришенков М. А., Чинарева И. В. Формирование общего контакта в мезапланарных матрицах фоточувствительных элементов на основе гетероэпитаксиальных структур InGaAs/InP 90
Комков О. С., Фирсов Д. Д., Ковалишина Е. А., Петров А. С. Спектральные характеристики поглощения в эпитаксиальных структурах на основе InAs при температурах 80 К и 300 К 93
ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
Мелкумян Б. В. Лазерный акселерометр на основе автономного резонаторного датчика 97
ИНФОРМАЦИЯ
Правила для авторов журнала «Прикладная физика» 102
C O N T E N T S
GENERAL PHYSICS
R. I. Golyatina and S. A. Maiorov Calculation of the characteristics electron transport in a mixture of helium and xenon 5
A. M. Anpilov, E. M. Barkhudarov, I. A. Kossyi, G. S. Luk’yanchikov, M. A. Misakyan, and I. V. Moryakov Thin film of nano-dimensional carbon deposition on the metallic samples as a multipactor prevention method 11
A. N. Morozov and A. V. Skripkin Diffusion of ions in the electrolyte under the influence of random current 16
PLASMA PHYSICS AND PLASMA METHODS
L. M. Vasilyak, S. P. Vetchinin, V. A. Panov, V. Ya. Pecherkin and E. E. Son Electric breakdown under the spread of pulsed current in a sand 20
S. E. Andreev and D. K. Ulyanov Method of radiation spectrum control for plasma relativistic microwave oscillator in repetitively-rated regime 25
N. N. Bogachev, I. L. Bogdankevich and N. G. Gusein-zade Simulation of plasma antenna operation modes 30
V. O. German, A. P. Glinov, A. P. Golovin and P. V. Kozlov About influence of an exterior magnetic field on stability of an electric arc 35
A. M. Borovskoi Simulation of gas flow in the cylindrical channels of high-voltage AC plasma torches subject to heating 40
PHOTOELECTRONICS
K. O. Boltar, P. V. Vlasov, V. V. Eroshenkov and A. A. Lopuhin Research of photodiodes with a leakage current in the InSb FPA 45
M. V. Sednev, K. O. Boltar, Y. P. Sharonov and A. A. Lopukhin Effects of ion-beam etching at formation of mesa-structures with the submicron sizes 51
A. V. Voitsekhovskii, S. N. Nesmelov, S. M. Dzyadukh, V. V. Vasilev, V. S. Varavin, S. A. Dvoretskii, N. N. Mikhailov, V. D. Kuzmin, V. G. Remesnik and Yu. G. Sidorov The investigation of admittance of MIS-structures based on graded-gap MBE n-HgCdTe (x = 0.22—0.23 and 0.31—0.32) in wide temperature range 56 A. V. Voitsekhovskii, S. N. Nesmelov, S. M. Dzyadukh, V. V. Vasilev, V. S. Varavin, S. A. Dvoretskii, N. N. Mikhailov, V. D. Kuzmin, V. G. Remesnik and Yu. G. Sidorov The peculiarities of admittance of MIS structures based on graded-gap MBE p-HgCdTe (x = 0.22—0.23) 62
S. S. Demidov and E. A. Klimanov Influence of parameters of a semiconductor-dielectric border on the current of a guard ring for silicon photodiodes 68
S. S. Demidov, E. A. Klimanov and M. A. Nuri The coordinate silicon photodiode with improved parameters 73
A. S. Kashuba, C. V. Golovin, K. O. Boltar, E. V. Permikina and A. S. Atrashkov Investigation of influence the heat processing time on electrophysical characteristics of CdхHg1-хTe multilayered structures 76
I. D. Burlakov, I. А. Denisov, A. L. Sizov, А. А. Silina and N. А. Smirnova The surface roughness investigation of CdZnTe sub-strates by different measuring methods of nanometer accuracy 80
B. A. Kostiuk, V. S. Varavin, I. O. Parm, V. G. Remesnik and G. Y. Sidorov Influence of plasma etching and following storage on the CdHgTe electrical properties 85
D. S. Andreev, T. N. Grishina, T. N. Mishchenkova, M. A. Trishenkov and I. V. Chinareva Forming of the general contact in a mesaplanar FPA on basis of the InGaAs/InP heteroepitaxial structures 90
O. S. Komkov, D. D. Firsov, E. A. Kovalishina and A. S. Petrov Spectral absorption characteristics in epitaxial structures based on InAs at temperatures of 80 K and 300 K 93
PHYSICAL APPARATUS AND ITS ELEMENTS
B. V. Melkoumian Laser accelerometer on base of the autonomous resonator sensor 97
INFORMATION
Rules for authors 102
Другие статьи выпуска
Обсуждаются преимущества лазерного акселерометра с неподвижным содержимым. Он основан на новых явлениях динамического изменения моды излучения в жёстком лазерном резонаторе (без движущихся или напрягающихся при движении частей) при его ускоренном движении. Создан прототип автономного резонаторного датчика.
В работе исследованы эпитаксиальные структуры n-InAs, выращенные на сильнолегированной подложке n++-InAs методом хлоридно-гидридной эпитаксии. Представлены экспериментально полученные спектры показателя поглощения n++-InAs при 83 К и 300 К. Проведено сравнение спектральных зависимостей доли поглощаемого в эпитаксиальном слое излучения при облучении со стороны подложки с различным уровнем легирования n = (0,6–3,3)·1018 см-3.
Авторами показано, что при изготовлении матриц фоточувствительных элементов на гетероструктурах InGaAs/InP по мезапланарной технологии использование травителя HCl: HNO3: CH3COOH: H2O2 = 1:6:1:1 позволило воспроизводимо получать мезаструктуры глубиной 3÷7 мкм с полированной боковой поверхностью и углом наклон мезаструктуры 60°.
Исследовано влияние плазмохимического травления в плазме Ar/H2 и последующей выдержки при разных температурах на электрофизические свойства пленок CdxHg1-xTe c x ≈ 0,2, выращенных на подложках из GaAs (013). Установлено, что после плазмохимического травления концентрация электронов увеличивается до ~1017 см-3, а также происходит релаксация концентрации с течением времени. На основе модели с образованием комплексов между междоузельными атомами ртути и структурными дефектами кристалла проведено численное моделирование кривых релаксации при разных температурах.
Проведено сравнение результатов измерений среднеквадратичного отклонения профиля шероховатости (rms) поверхности подложек CdZnTe методами конфокальной микроскопии (КМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и рентгеновской рефлектометрии (РР). Установлено, что метод КМ дает большие значения rms, метод АСМ занимает промежуточное положение, а РР дает значения на порядок меньшие остальных двух методов. Показано, что значения rms существенно различаются в КМ при использовании разных объективов. Обсуждаются возможные причины рассогласования полученных результатов.
Приведены результаты исследования влияния термообработки на электрофизические характеристики гетероструктур теллурида кадмия-ртути р-типа проводимости, выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией. Показано, что при термической обработке в атмосфере инертного газа ГЭС КРТ концентрация дырок возрастает до 31016 cм-3, а концентрация электронов в приповерхностном слое резко уменьшается.
Приведены результаты работы по улучшению параметров кремниевых координатных фотодиодов (ФД). Показано, что введение в технологический маршрут операции геттерирования диффузионным слоем фосфора приводит к существенному уменьшению темновых токов, что связано с резким снижением концентрации глубокого ГРЦ, определяющего темновой ток в ФД, изготовленных без применения данной операции. Приведены типичные параметры ФД.
Приведены соотношения, определяющие требования к сопротивлению инверсионного слоя для уменьшения влияния тока охранного кольца на темновой ток и шумы фотодиодов, и получения заданного значения коэффициента взаимосвязи между ФЧЭ в многоэлементных ФД. Показано, что зависимости тока охранного кольца от напряжения смещения и заряда на границе раздела Si—SiO2 при наличии инверсионного слоя удовлетворяют модели генерации тока в его области пространственного заряда. Сопротивление инверсионного слоя возрастает с ростом напряжения смещения в соответствии с зависимостью Rи ~V 1,5.
Экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе МЛЭ p-HgCdTe (x = 0,22—0,23) в широком диапазоне частот и температур. Дифференциальное сопротивление области пространственного заряда для МДП-структуры на основе p-HgCdTe, легированного As, ограничено процессами туннельной генерации в диапазоне температур 8—100 К. Для МДП-структур на основе пленки p-HgCdTe, в которой произошла конверсия типа проводимости после отжига, сопротивление области пространственного заряда определяется генерацией Шокли-Рида в диапазоне температур 50—77 К.
Экспериментально исследована полная проводимость МДП-структур на основе МЛЭ n-HgCdTe в широком диапазоне частот и температур. Наличие варизонного слоя в МДП-структурах на основе n-HgCdTe (x = 0,22—0,23) приводит к эффективному подавлению процессов туннелирования через глубокие уровни. Дифференциальное сопротивление области пространственного заряда в сильной инверсии для МДП-структур на основе n-HgCdTe (x = 0,22—0,23 с варизонным слоем, а также x = 0,31—0,32) ограничено процессами генерации Шокли-Рида в диапазоне температур 8—77 К.
Представлены результаты исследований профилей, формируемых ионно-лучевым травлением полупроводниковых структур через маску, изготовленную методами фотолитографии. Минимальные размеры областей, незащищенных маской на двух исследованных структурах были равны: 2 и 5 мкм соответственно. Показано, что скорость травления падает с уменьшением ширины свободного от маски промежутка. Эффект отражения ионного пучка от вертикальных стенок, формируемых при травлении, может быть использован для изготовления субмикронных разделяющих мезаобластей.
Характеристики плазмотронов зависят от организации подачи плазмообразующего газа и характера взаимодействия газового потока с электрическими дугами. Поэтому в процессе исследования было выполнено 3D-моделирование течения воздуха с учётом его нагрева от столба электрической дуги в областях тангенциальной подачи, в цилиндрическом канале, в сужающемся сопле и в смесительной камере исследуемых плазмотронов и за их пределами (в окружающей среде). При этом скорость газа, нагретого от дугового столба, на выходе из сужающегося сопла и из смесительной камеры в 2—6 раз больше скорости холодного газа.
Разработана стендовая установка для исследования способов стабилизации и дестабилизации разряда, связанных с наложением внешнего магнитного поля на основе системы линейных токов, включенных последовательно в цепь разряда. Получены данные о влиянии конфигурации внешнего магнитного поля на движение и форму дугового столба, размеры и скорости перемещения его опорных пятен и электродных струй-факелов.
С помощью численного моделирования изучались особенности и режимы работы плазменной несимметричной вибраторной антенны конечной длины и диаметра на частоте сигнала f0 = 1,7 ГГц. Концентрация плазмы изменялась в пределах двух порядков, результаты расчетов сравнивались с аналогичной металлической антенной. Получены распределения составляющих электрических полей антенн в ближней зоне и диаграммы направленности. Приведены диаграммы направленности металлического вибратора, полученные в результате измерения и моделирования в двух программах.
Плазменный релятивистский генератор может работать в режиме генерации одиночного импульса СВЧ-излучения или частотно-периодическом режиме (до 50 импульсов в секунду, длительностью до 80 нс, мощность до 50 МВт с частотами излучения от 2 до 25 ГГц). Для получения и исследования режимов генерации в частотнопериодическом режиме необходима оперативная обработка получаемых временных рядов. Представлена методика анализа временного ряда за время между экспериментами серии, позволяющая найти требуемый режим работы устройства. Приведены примеры достигнутых в результате исследования режимов работы плазменного релятивистского СВЧ-генератора.
Экспериментально исследованы процессы растекания импульсного тока с шаровых электродов и электрический пробой в кварцевом песке. При плотностях тока на электроде больше критической величины происходит нелинейное уменьшение сопротивления заземления в результате искрообразования в грунте. Определены значения критической напряженности электрического поля ионизациия и пробоя. Показано, что на электроде развивается ионизационно-перегревная неустойчивость, которая приводит к контракции тока и образованию плазменных каналов.
Рассматривается диффузия ионов электролита вблизи электрода при наличии флуктуирующего тока через его поверхность. Показано, что плотность ионов вблизи электрода испытывает случайные изменения, имеющие характер фликкер-шума. Найдены статистические характеристики таких флуктуаций.
Нанесённая на поверхность металла тонкая наноуглеродная плёнка способна уменьшить коэффициент вторичной электроннной эмиссии до величины менее или равной единице. Тем самым устранить возможность развития мультипакторного разряда. В работе описан метод получения коллоидного раствора углерода, способ создания на его основе наноструктурированной плёнки на поверхности металла, а также результаты измерения коэффициента вторичной электронной эмиссии, полученного образца.
Рассчитаны и проанализированы характеристики дрейфа электрона в смеси гелия с ксеноном при напряженности электрического поля E/N= 1—100 Тд с учетом неупругих столкновений. Показано, что даже незначительная добавка ксенона в гелий, начиная с долей процента, сильно влияет на разряд, в особенности, на характеристики неупругих процессов. Исследовано влияние процентного состава гелия и ксенона на дрейф электронов, в частности, на коэффициенты диффузии и подвижности, частоту ионизации и т. д.
Статистика статьи
Статистика просмотров за 2026 год.
Издательство
- Издательство
- АО "НПО "ОРИОН"
- Регион
- Россия, Москва
- Почтовый адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- Юр. адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- ФИО
- Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
- E-mail адрес
- orion@orion-ir.ru
- Контактный телефон
- +7 (499) 3749400