Читать онлайн

При разработке и изготовлении новой БИС иногда возникает необходимость редактирования схемы или топологии кристалла с целью улучшения его параметров. Рассмотрены методы коррекции топологии кристаллов, используемые для устранения ошибок при разработке и проектировании БИС. Представлены достоинства и недостатки методов коррекции.

At manufacture of the new LSI, it is sometimes necessary a correction of the circuit topology or crystal to improve its parameters. Methods of correction topology crystals have been used for troubleshooting at developing and designing LSI. The advantages and disadvantages of methods for correction are discussed.

Ключевые фразы: разработка, ПРОЕКТИРОВАНИЕ, редактирование, КОРРЕКЦИЯ, схема, топология, ДЕФЕКТ
Автор (ы): Акимов Владимир Михайлович (Akimov V. M.), Васильева Лариса Александровна, Демидов Станислав Стефанович, Климанов Евгений Алексеевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.3.049. Конструирование электрических цепей
eLIBRARY ID
21502914
Для цитирования:
АКИМОВ В. М., ВАСИЛЬЕВА Л. А., ДЕМИДОВ С. С., КЛИМАНОВ Е. А. МЕТОДЫ РЕДАКТИРОВАНИЯ ТОПОЛОГИИ БИС СЧИТЫВАНИЯ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2014. №2
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.