SciNetwork
  • Поиск
  • Библиотека 455
  • Журналы 6
  • Организации 5
    • Научно-исследовательские
    • Образовательные
    • Издательства
    • Библиотеки
    • Репозитории
  • Конференции
  • Блоги 1
  • Сообщество
    • Поиск людей
    • Группы
    • Форум
    • Формулы
  • Вход
Найти:
Войти Регистрация
Рабочий стол Мои работы Моя библиотека Мои сообщения Мои контакты Мои группы Мои подписки Мои конференции Мои фотографии Добавить Мои формулы Мой словарь Мои закладки Моя история
Чтобы продолжить, войдите в аккаунт или зарегистрируйтесь.
Приложение
на телефон

Суханова Анна Сергеевна Suhanova Anna Sergeevna

Статусы
Автор Участник конференций Докладчик
Место работы
АО "НПО "ОРИОН"
Инженер
ОНП
СВЕТОВАЯ МИКРОСКОПИЯ, ПЛОТНОСТЬ ДИСЛОКАЦИЙ, шероховатость поверхности, GaAs, aiiibv, метод Чохральского
SciID
0000000425
SPIN-код
3007-4250
Город
Москва
Заходила
показать
О себе

В разработке

Подробнее
Работы
4
Библиотека
0
Блог
0
Конференции
4
Группы
0
Контакты
5
Участница конференций: 4
06.02 / 06.02 2026 г. XV Научно-практическая конференция молодых ученых и специалистов АО "НПО "Орион"
Формат участия: Участник
24.06 / 25.06 2025 г. ФОРУМ «БУДУЩЕЕ ФОТОНИКИ»
Формат участия: Участник
07.02 / 07.02 2025 г. XIV Научно-практическая конференция молодых учёных и специалистов
Формат участия: Докладчик
Доклад: Анализ электронных транспортных свойств модулированно легированных гетероструктур типа HEMT, выращенных методом МЛЭ на подложках GaAs
29.05 / 31.05 2024 г. XXVII МЕЖДУНАРОДНАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ФОТОЭЛЕКТРОНИКЕ И ПРИБОРАМ НОЧНОГО ВИДЕНИЯ
Формат участия: Участник
Работы Сухановой А. С.: новые поступления
Повышение качества 100 мм Ge-подложек при серийном производстве многопереходных фотоэлектрических преобразователей
Статья
Повышение качества 100 мм Ge-подложек пр…
Измерение масштабов неоднородности размещения дислокационных ямок травления на цифровых изображениях монокристаллов GaAs
Статья
Измерение масштабов неоднородности разме…
Метрологическое обеспечение цифровых измерений изображений неоднородности ямок травления в монокристаллах GaAs
Статья
Метрологическое обеспечение цифровых изм…
Особенности подготовки подложек кадмий-цинк-теллур для выращивания эпитаксиальных слоев соединения кадмий-ртуть-теллур методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Статья
Особенности подготовки подложек кадмий-ц…
Постов пока нет

Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.

Доступ к этим данным разрешён только авторизованным пользователям.
Фото 2
Написать
Добавить в контакты
Другие действия
Пожаловаться
  • О научной сети
  • Пользовательское соглашение
  • Защита авторских прав
  • Cookies
  • Обратная связь
  • Privacy Policy
Права на оригинальные тексты, а также на подбор и расположение материалов принадлежат проекту SciNetwork, © 2016 — 2026
SciNetwork, © 2026
Функция добавления в закладки доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция отправки личных сообщений доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция оценок доступна только для авторизованных пользователей. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция добавления в контакты доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.