Статья: ДЕГРАДАЦИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ ПРИ ВЫСОКИХ УРОВНЯХ ИНЖЕКЦИИ (1995)

Читать онлайн

Получены экспериментальные распределения эффективной концентрации заряженных центров вблизи металлургической границы гетероперерехода n-GaAIAs/p-GaAs после длительной наработки при пропускании прямого тока Обнаружены существенные изменения в распределении концентрации и показана взаимосвязь с изменениями характеристик и параметров излучателей

Тhе experimental distribution of the effective concentration of charge centers near of the n-GaAIAs/p-GaAs heterojunction metal border were made after long let pass of the forward current. Тhе essential charges were discovered into distribution of the concentration of charge centers. It was showed correlation with modifications of the infrared diode characters

Автор (ы): Маняхин Ф. И. (Manyahin F. I.)
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.382.2. Полупроводниковые (кристаллические) диоды
Для цитирования:
МАНЯХИН Ф. И. ДЕГРАДАЦИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ ПРИ ВЫСОКИХ УРОВНЯХ ИНЖЕКЦИИ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 1995. №3-4