Статья: Исследование релаксационных процессов в гетероэпитаксиальных структурах КРТ (2015)

Читать онлайн

Проведены исследования по определению влияния различных технологий обработки поверхности КРТ на скорость поверхностной рекомбинации и, как следствие, на измеряемый параметр времени жизни неосновных носителей заряда. В качестве метода для определения параметра времени жизни был выбран неразрушающий метод бесконтактного измерения времени жизни по релаксационным кривым фотопроводимости, что позволило проводить исследования на реальных структурах, используемых в производстве матричных фотоприемных устройств.

The influence of treatment technologies for the HgCdTe surface on a surface recombination rate has been studied in this work. A nondestructive measurement of the lifetime was in use on base of relaxation characteristics for photoconductivity. The real FPA structures have been in service.

Ключевые фразы: гетероэпитаксиальные полупроводниковые структуры, КРТ, гетероэпитаксиальные структуры, время жизни носителей заряда
Автор (ы): Болтарь Константин Олегович (Boltar K.), Кашуба Алексей Сергеевич, Седнев Михаил Васильевич, Шаронов Юрий Павлович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.5. Проводники и полупроводники по виду материала
eLIBRARY ID
22932607
Для цитирования:
БОЛТАРЬ К., КАШУБА А. С., СЕДНЕВ М. В., ШАРОНОВ Ю. П. ИССЛЕДОВАНИЕ РЕЛАКСАЦИОННЫХ ПРОЦЕССОВ В ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУРАХ КРТ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2015. №1
Текстовый фрагмент статьи