На фоне современных способов проведения масс-анализа статические масс-анализаторы иногда считаются безнадёжно устаревшими и пригодными для решения лишь узкоспецифичных задач. Однако новые технологические решения (в частности, использование сильных постоянных магнитов со сложными профилями наконечников, использование параллельных детекторов высокого пространственного разрешения типа микроканальных пластин и фотодиодных матриц, и т. п.) вполне способны придать новое дыхание этому направлению. В данной статье рассматриваются теоретические способы, как на основе неоднородных статических магнитных полей, однородных по Эйлеру, можно разрабатывать схемы статических масс-спектрографов нового типа. Важно, что указанные массспектрографы характеризуются большим диапазоном масс в спектре, обладают строго линейной линией фокусов и демонстрируют одинаково высокое качество фокусировки (а именно, двойную фокусировку второго порядка по углу, энергии и дополнительно по вертикальному смещению) в любой точке линии фокусов.
As compared with modern methods of mass analysis, static mass analyzers are sometimes considered hopelessly outdated and suitable for a narrowly-specific tasks only. However, new technological solutions — in particular, the use of strong permanent magnets with complex profiles of tips, the use of parallel detectors of high spatial resolution such as microchannel plates and photodiode arrays, etc. — are able to give new impetus to this direction. This article discusses the theoretical methods, how it is possible to design optical schemes for static mass spectroqraphs of a new type based on non-uniform static Euler’s homogeneous magnetic fields. It is important that these mass spectrographs are characterized by a large mass range of the spectrum, have a strictly linear foci line and demonstrate the same high quality of focusing (namely, second-order double focusing in angle, energy and vertical displacement) at any point of the foci line.
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 25480319
В данной статье рассматриваются теоретические способы, как на основе неоднородных статических магнитных полей, однородных по Эйлеру, можно разрабатывать схемы статических массспектрографов нового типа. Важно, что указанные масс-спектрографы характеризуются большим диапазоном масс в масс-спектре, детектируемом за одно измерение, обладают строго линейной линией фокусов и демонстрируют одинаково высокое качество фокусировки (а именно, двойную фокусировку второго порядка по углу, энергии и дополнительно по вертикальному смещению) в любой точке линии фокусов.
В настоящий момент данная работа имеет чисто теоретический характер. Построение конкретных ионно-оптических схем, для которых выполнены приведённые выше соотношения для аберрационных коэффициентов, требует дополнительной работы, которая в настоящий момент не закончена.
Несмотря на очевидные трудности, поставленная задача представляется необычайно интересной как с теоретической точки зрения, так и с практической. Данные исследования будут нами продолжены, и хочется надеяться, что они приведут, в конечном счёте, не только к появлению новых красивых теоретических результатов в оптике заряженных частиц, но и к практическому выпуску отечественной промышленностью статических масс-спектрографов нового типа, обладающих рекордными характеристиками.
Список литературы
1. Астон Ф. Б. Масс-спектры и изотопы. — Москва: Гос. изд-во иностранной литературы, 1948.
2. Рафаэльсон А. Э., Шерешевский A. M. Масс-спектрометрические приборы. — Москва: Атомиздат, 1968.
3. Вольник Г. Оптика заряженных частиц. — СПб.: Энергоатомиздат, 1992.
4. Хокс П., Каспер Э. Основы электронной оптики. Т. 1. — Москва: Мир, 1993.
5. Кельман В. М., Карецкая С. П., Федулина Л. В., Якушев Е. М. Электронно-оптические элементы призменных спектрометров заряженных частиц. — Алма-Ата: Наука, 1979.
6. Кельман В. М., Родникова И. В., Секунова Л. М. Статические масс спектрометры. — Алма-Ата: Наука, 1985.
7. Сысоев А. А., Самсонов Г. А. Теория и расчёт статических масс-анализаторов. Учебное пособие. — М.: Московский инженерно-физический институт, 1972.
8. Yavor M. I. Optics of Charged Particle Analyzers. — Elsevier, 2009.
9. Галль Л. Н. Физические основы масс-спектрометрии и ее применение в аналитике и биофизике. — СПб, Изд-во Политехн. ун-та, 2010.
10. Галль Р. Н., Галль Л. Н. // Научное приборостроение. 2002. Т. 12. № 3. С. 6.
11. Галль Л. Н. / Тезисы. докл. VI Съезда ВМСО и V Всеросс. конф. «Масс-спектрометрия и её прикладные проблемы», 8–11 октября 2013 г., Москва. С. 15.
12. Sinha M. P., Langstaff D. P., Narayan D. J., Birkinshaw K. // Int. Journal of Mass Spectrometry. 1998. Vol. 176. No. 1–2. P. 99.
13. Коган В. Т., Гладков В. Ю., Викторова О. С. // ЖТФ. 2001. Т. 71. № 4. С. 130.
14. Коган В. Т., Маннинен С. А., Лебедев Д. С., Викторова О. С., Аманбаев И. Т. // ЖТФ. 2005. Т. 75. № 6. С. 121.
15. Cheong K. H., Khursheed A. // Nuclear Instruments and Methods A. 2011. Vol. 645. No. 1. P. 221.
16. Mattauch J., Herzog R. // Zeitschrift für Physik. 1934. Bd. 89. S. 786—795.
17. Mattauch J. // Physical Review. 1936. Vol. 50. P. 617.
18. Demster A. J. // Proceedings of the American Philosophical Society. 1935. Vol. 75. P. 755.
19. Demster A. J. // Physical Review. 1937. Vol. 51. P. 67.
20. Herzog R., Hauk V. // Annalen der Physik. 1938. Bd. 33. S. 89.
21. Bieri R., Everling F., Mattauch J. // Zeitschrift für Naturforschung. 1955. Bd. 10a. S. 659.
22. Johnson E. G., Nier А. О. // Physical Review. 1953. Vol. 91. P. 10.
23. Hintenberger H., Wende H., Konig L. // Zeitschrift für Naturforschung. 1955. Bd. 10a. S. 344—352.
24. Robinson С. F. // Review of Scientific Instruments. 1957. Vol. 28. P. 777.
25. Хинтенбергер X., Кениг Jl. Масс-спектрометры и масс-спектрографы с коррекцией аберраций изображения. В книге: Успехи масс-спектрометрии. — М.: ИЛ, 1963.
26. Duckworth H. E., Ghoshal S. N. In Book: Mass Spectrometry. Ed. by C. A. McDowell. McGraw-Hill, New York, 1963. P. 201.
27. Малов А. Ф. Сборник «Некоторые вопросы инженерной физики». Вып. 2. — М.: Гостехиздат, 1959. С. 54.
28. Малов А. Ф. Диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. — Москва, ИАЭ им. И. В. Курчатова / МИФИ, 1961.
29. Burgoyne T. W., Hieftje G. M. // Mass Spectrometry Reviews. 1996. Vol. 15. P. 241.
30. Бердников А. С., Аверин И. А., Голиков Ю. К. // Масс-спектрометрия. 2015. Т. 12. № 4. С. 272.
31. Голиков Ю. К., Краснова Н. К. // ЖТФ. 2011. Т. 81. № 2. С. 9.
32. Краснова Н. К. // ЖТФ. 2011. Т. 81. № 6. С. 97.
33. Голиков Ю. К., Краснова Н. К. Теория синтеза электростатических энергоанализаторов. — СПб.: Изд-во Политехнического университета. 2010. — 409 с.
34. Габдуллин П. Г., Голиков Ю. К., Краснова Н. К., Давыдов С. Н. // ЖТФ. 2000. Т. 70. № 2. C. 91.
35. Габдуллин П. Г., Голиков Ю. К., Краснова Н. К., Давыдов С. Н. // ЖТФ. 2000. Т. 70. № 3. С. 44.
36. Краснова Н. К. Диссертация д-ра физ.-мат. наук. Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский политехнический университет, 2014.
37. Аверин И. А. / Тезисы. докл. VII Съезда ВМСО и VI Всеросс. конф. «Масс-спектрометрия и её прикладные проблемы», 2-17 октября 2015 г., Москва. С. 132.
38. Аверин И. А. // Научное приборостроение. 2015. Т. 25. № 3. С. 35.
39. Карецкая С. П., Федулина Л. В. // ЖТФ. 1982. Т. 52. № 4. С. 740.
40. Карецкая С. П., Федулина Л. В. // ЖТФ. 1982. Т. 52. № 4. С. 735.
41. Karetskaya S. P., Glickman L. G., Beizina L. G., Goloskokov Yu. V. // Advances in Electronics and Electron Physics. 1994. Vol. 89. P. 391.
42. Гликман Л. Г., Голоскоков Ю. В., Карецкая С. П. // ЖТФ. 1996. Т. 66. № 7. С. 189.
43. Гликман Л. Г., Голоскоков Ю. В. // ЖТФ. 2001. Т. 71. № 10. С. 87.
44. Bimurzaev S. B., Bimurzaeva R. S., Aldiyarov N. // Physics Procedia. 2008. Vol. 1. No. 1. P. 291.
45. Бимурзаев С. Б., Якушев Е. М. // Прикладная физика. 2012. № 2. С. 60.
1. F. B. Aston, Mass Spectra and Isotopes (London, 1942; Gos. Izdat. Inostr. Literatur. Moscow, 1948).
2. A. E. Rafal’son and A. M. Shereshevskii, Mass-Spectrometric Devicess (Atomizdat, Moscow, 1968) [in Russian].
3. G. Wollnik, Optics of Charged Particles (Elsevier, Academic Press, Orlando, 1987; Energoatomizdat, SPb, 1992).
4. P. W. Hawkes, E. Kasper. Principles of Electron Optics. Vol. 1, 2. (Academic Press, 1989).
5. V. M. Kelman, S. P. Karetskaya, L. V. Fedulona, and E. M. Yakushev, Electron-Optical Elements of Prism Spectroscopes of Charged Particles (Nauka, Alma-Ata, 1979) [in Russian].
6. V. M. Kelman, I. V. Rodnikova, and L. M. Sekunova, Static Mass Spectrometers (Nauka, Alma-Ata, 1985) [in Russian].
7. A. A. Sysoev and G. A. Samsonov, Theory and Calculation of Static Mass-Analyzers (MEPhI, Moscow, 1972) [in Russian].
8. M. I. Yavor, Optics of Charged Particle Analyzers. (Elsevier, 2009).
9. L. N. Gall, Physical Foundations of Mass Spectrometry (Politekh. Univer., SPb, 2010) [in Russian].
10. R. N. Gall and L. N. Gall, Nauchnoe Priborostroenie (Scientific Instrumentation) 12 (3), 6 (2002).
11. L. N. Gall, in Proc. VI Meeting of VMSO and V All-Russian Conf. “Mass-Spectrometry and Its Applied Problems” (October 8–11, 2013, Moscow). P. 15.
12. M. P. Sinha, D. P. Langstaff, D. J. Narayan, and K. Birkinshaw, Int. Journal of Mass Spectrometry. 176 (1–2), 99 (1998).
13. V. T. Kogan, V. Yu. Gladkov, and O. S. Viktorova, Tech. Phys. 71 (4), 130 (2001).
14. V. T. Kogan, S. A. Manninen, D. S. Lebedev, O. S. Viktorova, I. T. Amanbaev, Tech. Phys. 75 (6), 121 (2005).
15. K. H. Cheong and A. Khursheed, Nuclear Instruments and Methods A. 645, 221 (2011).
16. J. Mattauch, R. Herzog. Zeitschrift für Physik, Bd. 89, 786 (1934).
17. J. Mattauch, Physical Review 50, 617 (1936).
18. A. J. Demster, Proceedings of the American Philosophical Society 75, 755 (1935).
19. A. J. Demster, Physical Review 51, 67 (1937).
20. R. Herzog, V. Hauk, Annalen der Physik, Bd. 33, 89 (1938).
21. R. Bieri, F. Everling, J. Mattauch, Zeitschrift für Naturforschung, Bd. 10, 659 (1955).
22. E. G. Johnson and А. О. Nier, Physical Review 91, 10 (1953).
23. H. Hintenberger, H. Wende, Zeitschrift für Naturforschung, Bd. 10a, 344 (1955).
24. С. F. Robinson, Review of Scientific Instruments 28, 777 (1957).
25. H. Hintenberger and L. Konig, Mass Spectrometers and Mass-Spectrographs with Correction of Aberration. In Book: Advances in Mass Spectrometry (IL. Moscow, 1963) [in Russian].
26. H. E. Duckworth and S. N. Ghoshal, in Book: Mass Spectrometry. Ed. by C. A. McDowell. (McGraw-Hill, New York, 1963). P. 201.
27. A. F. Malov, in Book: Certain Questions of Engineering Physics. Issue 2. (Gostekhizdat, Moscow, 1959). P. 54 [in Russian].
28. A. F. Malov, Candidate’s Dissertation on Mathematics and Physics. Abstract. (Moscow, Kurchatov IAE/MEPhI, 1961).
29. T. W. Burgoyne and G. M. Hieftje, Mass Spectrometry Reviews 15, 241 (1996).
30. A. S. Berdnikov, I, A. Averin, and Yu. K. Golikov, Mass-Spectrometria 12, 272 (2015).
31. Yu. K. Golikov and N. K. Krasnova, Tech. Phys. 81 (2), 9 (2011).
32. N. K. Krasnova, Tech. Phys. 81 (6), 97 (2011).
33. Yu. K. Golikov and N. K. Krasnova, Theory of Synthesis of Electrostatic Energy Analyzers (Politech. Univ., St. Perersburg, 2010) [in Russian].
34. P. G. Gabdullon, Yu. K. Golikov, N. K. Krasnova, and Davydov, Tech. Phys. 70 (2), 91 (2000).
35. P. G. Gabdullon, Yu. K. Golikov, N. K. Krasnova, and Davydov, Tech. Phys. 70 (3), 44 (2000).
36. N. K. Krasnova, Doctoral Dissertation on Mathematics and Physics. Abstract. (St. Petersburg, Politech. Univ., 2014) [in Russian].
37. I. A. Averin, in Proc. VII Meeting VMSO and VI All-Russian Conf. “Mass Spectrometry and Its Applied Problems” (October 2-17, 2015, Moscow). P. 132 [in Russian].
38. I. A. Averin, Nauchnoe Priborostroenie (Scientific Instrumentation) 25 (3), 35 (2015).
39. S. P. Karetskaya and L. V. Fedulina, Tech. Phys. 52 (4), 740 (1982).
40. S. P. Karetskaya and L. V. Fedulina, Tech. Phys. 52 (4), 735 (1982).
41. S. P. Karetskaya, L. G. Glickman, L. G. Beizina, and Yu. V. Goloskokov, Advances in Electronics and Electron Physics 89, 391 (1994).
42. L. G. Glickman, Yu. V. Goloskokov, and S. P. Karetskaya, Tech. Phys. 66 (7), 189 (1996).
43. L. G. Glickman and Yu. V. Goloskokov, Tech. Phys. 71 (10), 87 (2001).
44. S. B. Bimurzaev, R. S. Bimurzaeva, and N. Aldiyarov, Physics Procedia 1 (1), 291 (2008).
45. S. B. Bimurzaev and E. M. Yakushev, Prikladnaya Fizika, No. 2, 60 (2012).
Выпуск
С О Д Е Р Ж А Н И Е
ОБЩАЯ ФИЗИКА
Аверин И. А., Бердников А. С. Краевые поля бессеточных электронных спектрографов с однородными по Эйлеру электростатическими полями 5
Коберник Д. А., Никольский В. А., Руденко В. В. Возмущение низкочастотных электромагнитных полей в волноводе земля-ионосфера сферической неоднородностью, заглубленной под поверхностью земли 9
Наумов Н. Д. Оценка поля электромагнитного импульса в параксиальной области 19
Мелкумян Б. В. Определение газовых потоков активной среды лазерного гироскопа 24
Голофастова А. С., Новиковский Н. М., Разномазов В. М., Павленко А. В., Вербенко И. А., Сарычев Д. А., Резниченко Л. А., Махиборода А. В. Определение стехиометрического состава твердых растворов (1-x)BiFeO3–xPbFe1/2Nb1/2O3 методом рентгеновского флуоресцентного анализа с полным внешним отражением 32
Акаткин О. А., Кулиш О. А., Петрова О. В. Моделирование изодозных распределений в низкоатомной среде при облучении пучком нейтронов высоких энергий 37
ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ
Болдырев М. С., Наумов Н. Д., Никольский В. А., Урядов В. П. Модель рассеяния коротких радиоволн искусственными ионосферными неоднородностями 41
Долгов А. Н., Клячин Н. А., Прохорович Д. Е. Полоидальные структуры в плазме Z-пинча 46 ФОТОЭЛЕКТРОНИКА Бурлаков И. Д., Филачев А. М., Холоднов В. А. Аналитическое описание характеристик лавинных фо-тодиодов (обзор). Часть I 52
Козлов К. В., Кузнецов П. А., Соляков В. Н., Хамидуллин К. А., Антипов Н. С. Классификация и исследование взаимосвязи каналов крупноформатного многорядного инфракрасного фотоприемного устройства 78
ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ
Бердников А. С., Аверин И. А. Новый подход к разработке ионно-оптических схем статических масс-спектрографов на основе неоднородных магнитных полей, однородных по Эйлеру 89
ПЕРСОНАЛИИ
Юбилейная дата И. Д. Бурлакова 96
Вспоминая о Л. А. Бовиной 98
ИНФОРМАЦИЯ
24-я Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения 100
Правила для авторов 103
Бланк для подписки 106
C O N T E N T S
GENERAL PHYSICS
I. A. Averin and A. S. Berdnikov Fringe fields of gridless electronic spectrographs with Euler’s homogeneous electrostatic fields 5
D. A. Kobernik, V. A. Nikolsky, and V. V. Rudenko The effect of the excitation of low-frequency electromagnetic fields in an earth-ionosphere waveguide by a sub-surface buried spherical inhomogeneity 9
N. D. Naumov Pulse field estimation for a paraxial region 19
B. V. Melkoumian Laser gyro active media gas flow determination 24
A. S. Golofastova, N. M. Novikovskiy, V. M. Raznomazov, A. V. Pavlenko, I. A. Verbenko, D. A. Sarychev, L. A. Reznichenko, and A. V. Makhiboroda Determination of stoichiometric composition of the solid solution (1-x)BiFeO3–xPbFe1/2Nb1/2O3 by TXRF analysis 32
O. A. Akatkin, O. A. Culish, and O. V. Petrova Modelling of an isodose distribution of irradiation with high energy neutrons beams in a low atomic number medium 37
PLASMA PHYSICS AND PLASMA METHODS
M. S. Boldyrev, N. D. Naumov, V. A. Nikolskiy, and V. P. Uryadov The technique for a specular scattering of short radio waves from artificial ionospheric irregularities 41
A. N. Dolgov, N. A. Klyachin, and D. E. Prokhorovich Poloidal structures of the Z-pinch plasma 46
PHOTOELECTRONICS
I. D. Burlakov, А. М. Filachev, and V. A. Kholodnov Analytical description of characteristics of the avalanche photodiodes (a review). Part I 52
K. V. Kozlov, P. A. Kyznetsov, V. N. Solyakov, K. A. Chamidullin, and N. S. Antypov The investigation of TDI FPA signals correlation 78
PHYSICAL EQUIPMENT AND ITS ELEMENTS
A. S. Berdnikov and I. A. Averin A new approach to development of ion-optical systems for static mass spectrographs on the basis of the non-uniform Euler’s homogeneous magnetic fields 89
PERSONALIA
Anniversary Date of I. D. Burlakov 96
Remembering about L. A. Bovina 98
INFORMATION
XXIV International Conference on Photoelectronics and Nigth Vision Devices 100
Rules for authors 103
Subscription to the Journal 106
Другие статьи выпуска
Проведено комплексное теоретическое исследование, позволившее оценить степень влияния взаимосвязи сигналов многорядного крупноформатного фотоприемного устройства (ФПУ) на его характеристики. Предложено классифицировать виды взаимосвязи следующим образом, а именно, выделить два вида фотоэлектрической связи: “внутриканальную фотоэлектрическую связь” и “межканальную фотоэлектрическую связь”, а также два вида электрической связи: “взаимосвязь в схеме ВЗН-суммирования” (ВЗН — временная задержка и накопление) и “взаимосвязь внутри блока сопряжения”. Представлены формы выходных сигналов ФПУ, характерные для каждого вида взаимосвязи сигналов. Вычисления проведены для двух различных топологий матриц фоточувствительных элементов. Результаты, полученные в работе, применимы для широкого класса инфракрасных (ИК) ФПУ с режимом ВЗН.
Представлены аналитические выражения для коэффициентов лавинного размножения носителей в p–n-структурах. Рассмотрены наиболее характерные ситуации: ступенчатый (резкий) и плавный (линейный) p–n-переходы и тонкая p+–n(p)–n+-структура (типа p–i–n). Выведены формулы для напряжения лавинного пробоя VBD и показателя степени в соотношении Миллера для зависимости коэффициента размножения носителей от приложенного напряжения V. На примере полупроводников Ge, Si, GAP и InSb показано, что полученные аналитические результаты находятся в хорошем количественном согласии с проведенными ранее численными расчетами и экспериментальными данными. Эти результаты позволяют быстро и с хорошей точностью оценивать коэффициенты размножения электронов и дырок при заданном приложенном напряжении V.
Проведен теоретический анализ зависимости межзонного туннельного тока гетероструктуры с p+–n-переходом в ″широкозонном″ слое от параметров используемых полупроводниковых материалов, уровней легирования ″высокоомных″ слоев и их толщин при напряжениях лавинного пробоя гетероструктуры. Показано, что туннельный ток, как правило, немонотонно зависит от концентрации легирующей примеси в ″высокоомной″ части ″широкозонного″ слоя. В наиболее практически интересном случае существует оптимальная концентрация этой примеси, при которой для заданных толщин слоев и уровня легирования ″узкозонного″ слоя туннельный ток достигает абсолютного минимума. Выведена простая формула для определения величины этой концентрации. Получено также аналитическое выражение для определения минимального значения туннельного тока. В реальных случаях перепад токов может составлять несколько порядков. Выяснено, что увеличение уровня легирования ″узкозонного″ слоя во многих случаях приводит к уменьшению туннельного тока. Показано, что при понижении уровня легирования ″высокомных″ слоев гетероструктуры туннельный ток не обращается в нуль, а начиная с некоторой концентрации перестает зависеть от уровня легирования. Аналогичный эффект имеет место и для гомогенного p+–n-перехода. Обсуждаются физические причины такого поведения туннельного тока при напряжениях лавинного пробоя. Разработана методика оптимизации параметров гетероструктуры порогового лавинного фотодиода с разделенными областями поглощения и умножения. Проведены конкретные расчеты, например, для широко используемой системы InP-In0,53Ga0,47As-InP.
Рассмотрена возможность описания переходных процессов в p–i–n лавинных фотодиодах (ЛФД) элементарными функциями, прежде всего, при начальном напряжении V0, большем напряжения лавинного пробоя VBD. Постановка задачи вызвана потребностью знать явные условия возникновения гейгеровской моды работы ЛФД. Выведено несложное выражение, описывающее динамику лавинного гейгеровского процесса. Получена формула для полного времени его протекания. Представлено явное аналитическое соотношение реализации моды Гейгера. Определены условия применимости полученных результатов.
В заключение на основе аналитических вычислений обсуждены и продемонстрированы преимущества лавинных гетерофотодиодов (ЛГФД) с разделенными областями поглощения и умножения (РОПУ) типа ‘‘low-high-low’’ перед классическими образцами.
Проведено исследование пространственной структуры и динамики плазмы в разряде сильноточной вакуумной искры методом импульсной тенеграфии. Зарегистрировано формирование полоидальных структур в плазме перетяжки на стадии завершения процесса пинчевания.
Предполагается использовать импульс мягкого рентгеновского излучения для воздействия на мишень, содержащую термоядерное топливо, для ее сжигания и нагрева. Подобные устройства оказываются пригодными для инновационного решения ряда прикладных задач.
В работе представлена модель расчёта геометрии ракурсных контуров на земной поверхности, характеризующих рассеяние коротких радиоволн передатчика мелкомасштабными магнитно-ориентированными неоднородностями электронной концентрации, искусственно созданных в верхней ионосфере в результате работы нагревного стенда. Модель основана на решении системы дифференциальных уравнений, описывающих лучевую траекторию распространения радиоволны в трёхмерно-неоднородной ионосфере. Проведено сравнение результатов, полученных расчётным путём при использовании разработанной модели, с данными, полученными в результате экспериментальных исследований по ракурсному рассеянию декаметровых радиоволн с линейной частотной модуляцией, проведённых на отечественном стационарном среднеширотном нагревном стенде Сура в период 09-14 сентября 2013 г.
Разработана модель для прогноза поглощенных доз в низкоатомной среде при облучении нейтронами высоких энергий. Она основана на обыкновенных дифференциальных уравнениях первого порядка. Их решениями аппроксимированы распределения этих доз в объеме среды. Параметры решений определены по данным измерений. По этим распределениям рассчитаны изодозные карты. На их основе спрогнозированы соответствующие распределения доз. При этом трудоемкая задача расчета и визуализации изодозных распределений сведена к численному решению системы алгебраических уравнений. Для заданных условий результаты моделирования сравнены с результатами измерений. Они хорошо совпадают. Модель найдет применение в радиационной физике и дозиметрии нейтронного излучения.
В работе показана возможность определения стехиометрического состава твердых растворов (1-x)BiFeO3–xPbFe1/2Nb1/2O3 методом рентгенофлуоресцентного анализа на спектрометре РФС-001 с полным внешним отражением рентгеновского излучения (TXRF). Исследовался элементный состав 15 образцов керамики с изменением стехиометрического коэффициента x в диапазоне значений от 0,25 до 0,95. Исследуемая проба представляла из себя мелкодисперсный порошок массой порядка нескольких мг. Описаны ключевые этапы синтеза твердых растворов (1-x)BiFeO3–xPbFe1/2Nb1/2O3. Перечислены основные характеристики TXRF спектрометра РФС-001. Описана подготовка проб к анализу и методика определения стехиометрического коэффициента x на TXRF- спектрометре. Приводится формула расчета стехиометрического коэффициента x по экспериментальным данным значений интенсивностей L-серий рентгеновской флуоресценции висмута и свинца. Проведено сопоставление экспериментально полученных методом рентгенофлуоресцентного анализа коэффициентов х с их значениями, закладываемыми при синтезе твердых растворов. Показано, что метод рентгенофлуоресцентного анализа на TXRF-спектрометре позволяет с высокой точностью контролировать элементный состав, определяющий уникальные электрофизические, магнитные и магнитодиэлектрические свойства высокотемпературных мультиферроиков. Данная методика позволяет уйти от сложной пробоподготовки, необходимой при традиционном рентгеновском флуоресцентном анализе, что уменьшает время анализа и удешевляет процесс контроля качества синтезируемых материалов.
Предложен метод неразрушающего контроля газовых потоков активной среды кольцевого лазера, обусловленных неоднородным тепловым полем в кольцевом резонаторе. Скорость потока определяется через измеряемые величины: эффективную частоту возбуждения электрическим полем, эффективную частоту теплового ухода возбуждённых атомов на стенки разрядной трубки, температуру внешней стенки активной среды и среднюю температуру в корпусе кольцевого лазера. Предлагаемая физическая модель нагрева среды позволяет повысить точность лазерного гироскопа.
Рассматривается задача о распространении в диспергирующей и поглощающей среде импульса, формируемого с помощью параболического рефлектора. Для описания пространственно-временной эволюции импульса используется метод параболического уравнения. Разработанный метод позволяет оценить для ближней и дальней зоны поле импульса в параксиальной области с учетом влияния эффекта дифракции и свойств среды. Получено аналитическое выражение для поля импульса на оси рефлектора. Показано, что для электромагнитного импульса в вакууме это выражение согласуется с известным результатом, что во временной области сигнал в зоне Фраунгофера соответствует производной исходного импульса. Проанализировано влияние поглощения на искажение акустического импульса. Рассмотрена модельная задача о компрессии электромагнитного импульса в холодной плазме без столкновений.
В трехмерной постановке разработана модель для описания распространении низкочастотного излучения в волноводе земля-ионосфера. Построена аналитическая модель. Получены закономерности для электромагнитных полей от расположенного в волноводе или в нижней ионосфере СНЧ-источника. Рассматриваются поля в волноводе, ионосфере и подстилающей поверхности земли. Под поверхностью земли решается задача о рассеянии этого излучения на заглубленной сферической неоднородности. Получены аналитические оценки для пустотной и неоднородности с высокой проводимостью. Для рассеянного излучения исследована структура электромагнитного поля над поверхностью земли. Получено сопоставление начального и рассеянного полей в волноводе в зависимости от исходных характеристик СНЧ-источника, глубины залегания и электромагнитных свойств неоднородности и земли. Результаты расчетов сопоставлены с уровнем естественных шумов в волноводе. Сделаны выводы о возможности зондирования слабо заглубленных объектов. Полученный уровень возмущения начального поля оказывается относительно слабым для проведения аэроразведки, но оставляет возможности для идентификации заглубленного объекта с поверхности земли.
Предметом исследования являются краевые поля электронных спектрографов с однородными по Эйлеру электрическими полями. Большинство рассмотренных ранее оптических схем используют приближение идеального скачка электрического поля для краевой области, что на практике приводит к дополнительным краевым полям, разрушающим идеальные спектрографические свойства исходной оптической схемы. В данной работе показано, как можно организовывать строго однородные по Эйлеру трёхмерные электростатические поля, которые сохранят идеальные спектрографические свойства и обеспечат бессеточный ввод и вывод частиц.
Издательство
- Издательство
- АО "НПО "ОРИОН"
- Регион
- Россия, Москва
- Почтовый адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- Юр. адрес
- 111538, г Москва, р-н Вешняки, ул Косинская, д 9
- ФИО
- Старцев Вадим Валерьевич (ГЕНЕРАЛЬНЫЙ ДИРЕКТОР)
- E-mail адрес
- orion@orion-ir.ru
- Контактный телефон
- +7 (499) 3749400