В работе представлены результаты измерения вольтамперных характеристик (ВАХ) мезаэлементов матриц формата 320256 с шагом 30 мкм p–i–n-диодов. Данные образцы сформированы ионно-лучевым травлением на основе гетероэпитаксиальных структур (ГЭС) AlxGa1-xN, изготовленных методами молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) и эпитаксии с использованием металлоорганических соединений (МОС). Использованы также тестовые образцы мезадиодов различных по диаметру размеров, изготовленных на основе ГЭС, полученных молекулярно-лучевой эпитаксией и сформированных травлением p+- и iслоёв в высокоплотной плазме BCl3/Ar/N2. Представлены типичные ВАХ p–i–n-диодов на основе ГЭС, полученных разными методами выращивания и формирования мезы. Полученные результаты могут свидетельствовать о высокой плотности дефектов роста эпитаксиальной структуры по площади пластин, изготовленных методом МЛЭ.
Quality of the heteroepitaxial structures (layers and boundaries dividing them structural accomplishment; heteroepitaxial structures surface roughness and curvative) is the main requirement for high- performance FPAs production. The results of the 320256 FPAs had 30 m pixel pitch p–i–ndiodes mesa-elements current-voltage characteristics measurements are discussed in this article. The 320256 FPAs had the 30 m pixel pitch. Mesa-elements were obtained by ion-beam etching from the AlGaN heteroepitaxial structures produced by molecular-beam epitaxy and epitaxy using organometallic compounds. The results of the different size mesa diodes test samples based on heteroepitaxial structures obtained by molecular-beam epitaxy and produced by the p+ and i-layers etching in the high-density plasma. Typical current-voltage characteristics of heteroepitaxial structures based diodes obtained by different methods of mesa growing and formation are presented in the article.
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 36426132