Статья: Метод неразрушающего контроля надежности PIN-фотодиодов по вольт-амперным характеристикам (2010)

Читать онлайн

Метод диагностики PIN-фотодиодов с охранным кольцом, основанный на анализе вольт‐амперных характеристик и дифференциальных m- и n-параметров, был разработан для установления механизмов деградации при испытаниях на длительную наработку (life time) и контроля надежности “идеальных” и “неидеальных” фотодиодов с дефектами, приводящими к параметрическим отказам.

The diagnostic method PIN-photodiodes with security rings, based on the analysis voltagecurrent characteristic and differential m- and n-parameters, was developed for establishing of degradation mechanisms in lifetime test and the control of reliability “ideal” and “nonideal” photodiodes with defects, bringing parametrical refusal.

Ключевые фразы: "идеальный" и "неидеальный" pin-фотодиод, охранное кольцо, параметрический отказ, ВОЛЬТ-АМПЕРНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА, m- и n-параметры, диагностика, надежность
Автор (ы): Кондратенко Владимир Степанович (Kondratenko V. S.), Куроедов Александр Вениаминович, Рыжиков Игорь Вениаминович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535.376. Люминесценция, вызванная заряженными частицами. Радиолюминесценция. Рентгенолюминесценция. Электролюминесценция
Для цитирования:
КОНДРАТЕНКО В. С., КУРОЕДОВ А. В., РЫЖИКОВ И. В. МЕТОД НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ НАДЕЖНОСТИ PIN-ФОТОДИОДОВ ПО ВОЛЬТ-АМПЕРНЫМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2010. №2
Текстовый фрагмент статьи
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.