Найти:

Архив статей

Фильтры 1  
Метод неразрушающего контроля надежности PIN-фотодиодов по вольт-амперным характеристикам (2010)
Выпуск: №2 (2010)
Авторы: Кондратенко В. С., Куроедов А. В., Рыжиков И. В.

Метод диагностики PIN-фотодиодов с охранным кольцом, основанный на анализе вольт‐амперных характеристик и дифференциальных m- и n-параметров, был разработан для установления механизмов деградации при испытаниях на длительную наработку (life time) и контроля надежности “идеальных” и “неидеальных” фотодиодов с дефектами, приводящими к параметрическим отказам.

Сохранить в закладках
Все права на тексты и товарные знаки принадлежат их законным владельцам. Подробнее...

Сайт https://scinetwork.ru (далее – сайт) работает по принципу агрегатора – собирает и структурирует информацию из публичных источников в сети Интернет, то есть передает полнотекстовую информацию о товарных знаках в том виде, в котором она содержится в открытом доступе.

Сайт и администрация сайта не используют отображаемые на сайте товарные знаки в коммерческих и рекламных целях, не декларируют своего участия в процессе их государственной регистрации, не заявляют о своих исключительных правах на товарные знаки, а также не гарантируют точность, полноту и достоверность информации.

Все права на товарные знаки принадлежат их законным владельцам!

Сайт носит исключительно информационный характер, и предоставляемые им сведения являются открытыми публичными данными.

Администрация сайта не несет ответственность за какие бы то ни было убытки, возникающие в результате доступа и использования сайта.

Спасибо, понятно.