Статья: Пороговая плотность мощности воздействия моно-импульсного наносекундного лазерного излучения для InGaAs p–i–n фотодиодов с обратной засветкой (2026)

Читать онлайн

Определены пороговые значения плотности мощности моноимпульсного лазерного излучения с длиной волны λ = 1535 нм и длительностью 8,6 нс, приводящего к деградации In0,53Ga0,47As p–i–n фотодиода с обратной засветкой. Выявлен немонотонный характер изменения темнового тока: в диапазоне от 18,2 до 166,6 МВт/см2 зафиксировано его снижение, тогда как при превышении 216,8 МВт/см2 наблюдается резкий рост тока и потеря работоспособности фотодиода. Экспериментально установлен порог образования абляционных кратеров (267,1–338,9 МВт/см2) и показана логарифмическая зависимость их диаметра от плотности мощности воздействия.

The value of mono-pulse laser radiation power density with a wavelength λ = 1535 nm and a duration of 8.6 ns is determined, leading to degradation of the surface of the sensitive site of the inverse In0.53Ga0.47As p–i–n photodiode. Investigated the nature of the increase of dark current and diameter of craters depending on laser power.

Ключевые фразы: ingaas p–i–n фотодиод, лазерный нагрев, темновой ток, обратная засветка
Автор (ы): Белик Кирилл Денисович (Belik K. D.), Короннов Алексей Алексеевич, Типтюх Алексей Максимович, Митягин Даниил Олегович
Журнал: УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535.211. Тепловое действие. Тепловой эффект
Для цитирования:
БЕЛИК К. Д., КОРОННОВ А. А., ТИПТЮХ А. М., МИТЯГИН Д. О. ПОРОГОВАЯ ПЛОТНОСТЬ МОЩНОСТИ ВОЗДЕЙСТВИЯ МОНО-ИМПУЛЬСНОГО НАНОСЕКУНДНОГО ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ INGAAS P–I–N ФОТОДИОДОВ С ОБРАТНОЙ ЗАСВЕТКОЙ // УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ. 2026. ТОМ 14, №2
Текстовый фрагмент статьи
Моя история просмотров (10)
Будьте первым, кто начнет обсуждение

Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.