Косвенное взаимодействие атомов углерода как причина смещения фононных частот эпитаксиального графена (2024)

ля определения влияния субстрата на оптическую частоту ωLO(Γ) свободного графена рассмотрена задача об адсорбированном на твердотельной подложке димере, состоящим из двух атомов углерода, связанных прямым (кинетическим) t и косвенным tind (через состояния подложки) обменами. Показано, что в случае полупроводниковой подложки результирующее взаимодействие, равно t+|tind|, что приводит к сдвигу частоты ωLO(Γ) на величину ΔωLO(Γ)>0 (красное смещение G-пика рамановского спектра) и относительный сдвиг, δLO(Γ)=ΔωLO(Γ)/ ωLO(Γ)~|tind|/t. Сделанные для подложки 6H-SiC численные оценки δLO(Γ) хорошо согласуются с данными эксперимента. В случае подложки - переходного металла показано, что для металлов с большими эффективными массами d-электронов (элементы конца 3d-ряда), возможна ситуация, когда ΔLO(Γ)<0 (голубое смещение), что реально имеет место для графена, сформированного на Ni(111). Здесь, однако, теоретические оценки |δLO(Γ)| являются заниженными.

Тип: Статья
Автор (ы): ДАВЫДОВ СЕРГЕЙ ЮРЬЕВИЧ
Ключевые фразы: прямой и косвенный обмены, продольная оптическая частота, SiC- и d-металлические подложки

Идентификаторы и классификаторы

УДК
538.9. Физика конденсированного состояния (жидкое и твердое состояния) (микроскопическое описание)
Текстовый фрагмент статьи