Статья: Результаты зарядки поверхности планарных фотодиодов из антимонида индия при коротковолновом облучении и обратном смещении (2019)

Читать онлайн

Представлены результаты по воздействию коротковолнового излучения и обратного смещения с широким диапазоном величин воздействующих факторов (энергии квантов и плотности потока фотонов, тока и напряжения обратного смещения) на вольтамперные характеристики, токи шума и сигнала, а также равномерности тока сигнала в многоплощадочных планарных фотодиодах р+–n-типа из антимонида индия. Исследования проводили непосредственно на кристаллах, а также макетах фотодиодов с этими кристаллами. Для обоих случаев воздействия все полученные результаты по деградации и восстановлению изучаемых параметров объясняются единой моделью на основе зарядки определённых участков поверхности кристалла «горячими» электронами, «разогретыми» до необходимых энергий либо поглощёнными квантами, либо электрическим полем области пространственного заряда р+–n-перехода, а также зависимости степени закрепления электронов на поверхности от величин воздействующих факторов. Делается вывод о том, что при проектировании и производстве следует учитывать возможности отказов ФД за счёт зарядки поверхности планарной структуры при сохранении бездефектной металлургической и планарной границ р+–n-перехода. Определены меры по устранению таких отказов.

Consideration is given to the quality results concern influence of a shortwave irradiation and reverse voltage displacement with wide diapason of influence factors (quant energy and there flow density, current and voltage of reverse displacement) on volt-ampere characteristics, noise and signal currents and alsou uniform of signal currents in manygrounds planar photodiodes p+–n tipes from antimony indium. The investigations carried out directly on cristalles and alsow photodiodes makets with this cristalles. For both occasions of influence, all received resultes concern degradation and investigated parameters restore, explaned with united quality model, grounded on charging of some crystal surface plots with «hot» electrons, «heated» till necessary energies either absorbed quants or electric field of p+–n junction space region and on dependens of fixing degree electrons surface from influence factors quality. Made resolution, that considerable quantity effects, be of importance in production and at trial, connected with planar structure surface charging by in the time of preservation without defects metallurgical and planar p+–n jnnction boundaries.

Ключевые фразы: планарный фотодиод, антимонид индия, зарядка поверхности, «горячие» электроны
Автор (ы): Астахов Владимир Петрович, Гиндин Павел Дмитриевич, Чеканова Галина Васильевна
Журнал: УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535.247. Объективная фотометрия (с помощью химических, электрохимических, термоэлектрических, фотоэлектрических и т.п. методов)
eLIBRARY ID
37305302
Для цитирования:
АСТАХОВ В. П., ГИНДИН П. Д., ЧЕКАНОВА Г. В. РЕЗУЛЬТАТЫ ЗАРЯДКИ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАНАРНЫХ ФОТОДИОДОВ ИЗ АНТИМОНИДА ИНДИЯ ПРИ КОРОТКОВОЛНОВОМ ОБЛУЧЕНИИ И ОБРАТНОМ СМЕЩЕНИИ // УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ. 2019. ТОМ 7, № 2
Текстовый фрагмент статьи