Результаты зарядки поверхности планарных фотодиодов из антимонида индия при коротковолновом облучении и обратном смещении (2019)

Представлены результаты по воздействию коротковолнового излучения и обратного смещения с широким диапазоном величин воздействующих факторов (энергии квантов и плотности потока фотонов, тока и напряжения обратного смещения) на вольтамперные характеристики, токи шума и сигнала, а также равномерности тока сигнала в многоплощадочных планарных фотодиодах р+–n-типа из антимонида индия. Исследования проводили непосредственно на кристаллах, а также макетах фотодиодов с этими кристаллами. Для обоих случаев воздействия все полученные результаты по деградации и восстановлению изучаемых параметров объясняются единой моделью на основе зарядки определённых участков поверхности кристалла «горячими» электронами, «разогретыми» до необходимых энергий либо поглощёнными квантами, либо электрическим полем области пространственного заряда р+–n-перехода, а также зависимости степени закрепления электронов на поверхности от величин воздействующих факторов. Делается вывод о том, что при проектировании и производстве следует учитывать возможности отказов ФД за счёт зарядки поверхности планарной структуры при сохранении бездефектной металлургической и планарной границ р+–n-перехода. Определены меры по устранению таких отказов.

Consideration is given to the quality results concern influence of a shortwave irradiation and reverse voltage displacement with wide diapason of influence factors (quant energy and there flow density, current and voltage of reverse displacement) on volt-ampere characteristics, noise and signal currents and alsou uniform of signal currents in manygrounds planar pho-todiodes p+–n tipes from antimony indium. The investigations carried out directly on cristalles and alsow photodiodes makets with this cristalles. For both occasions of influence, all re-ceived resultes concern degradation and investigated parameters restore, explaned with unit-ed quality model, grounded on charging of some crystal surface plots with «hot» electrons, «heated» till necessary energies either absorbed quants or electric field of p+–n junction space region and on dependens of fixing degree electrons surface from influence factors quality. Made resolution, that considerable quantity effects, be of importance in production and at tri-al, connected with planar structure surface charging by in the time of preservation without defects metallurgical and planar p+–n jnnction boundaries.

Тип: Статья
Автор (ы): Астахов Владимир Петрович

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
535.247. Объективная фотометрия (с помощью химических, электрохимических, термоэлектрических, фотоэлектрических и т.п. методов)
eLIBRARY ID
37305302
Текстовый фрагмент статьи