На основе метода поверхностного плазмонного резонанса разработана методика из-
мерения толщины растущей металлической пленки порядка 0,1 мкм. В работе при-
менен метод численного моделирования и создание на его основе в среде LabView про-
граммы управления для контроля процесса роста металлической пленки по ее
оптическим параметрам. Показано, что метод является пригодным для его применения
при управлении процессом получения пленок с повторяющимися оптическими свой-
ствами. Возбуждая на поверхности пленки плазмон поляритонные волны и регистрируя
резонансное взаимодействие поверхностных плазмонов с поверхностной электромаг-
нитной волной, получают отклик в виде оптического сигнала. Анализ характеристик
резонансного отклика дает возможность корректировать ход процесса напыления
Based on the surface plasmon resonance method, a technique for measuring the thickness of a
growing metal film has been developed. The work uses a numerical modeling method and the
creation on its basis in the LabView environment of a control program to control the growth
process of a metal film based on its optical parameters. It is shown that the method is suitable
for use in controlling the process of producing films with repeatable optical properties. By ex-
citing plasmon polariton waves on the surface of the film and recording the resonant interac-
tion of surface plasmons with a surface electromagnetic wave, a response is obtained in the
form of an optical signal. Analysis of the characteristics of the resonant response makes it pos-
sible to correct the course of the deposition process film
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- Префикс DOI
- 10.51368/1996-0948-2023-6-66-71
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.