Статья: МЕТОД ВЫЯВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОВ ДЕГРАДАЦИИ В ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТАХ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ИМПУЛЬСОВ НАПРЯЖЕНИЯ (2026)

Читать онлайн

Рассматривается метод оценки показателей стойкости современной электронной компонентой базы к воздействию электрических импульсов напряжения длительностью от нескольких десятков наносекунд до десятков микросекунд. Основой данного метода является выявление процессов деградации в электронных компонентах при воздействии последовательности импульсов напряжения. Результатом практической реализации этого метода является определение пороговой амплитуды электрического импульса, начиная с которой происходит изменение значений параметров-критериев годности изделия до их выхода за установленные нормы. Выявление таких процессов сигнализирует об образовании и накоплении скрытых дефектов в электронных компонентах в процессе воздействия последовательности импульсов напряжения. Метод направлен на повышение воспроизводимости получаемых результатов при оценке показателей стойкости образцов электронных компонентов из разных партий к воздействию импульсов напряжения, а также может быть использован для классификации электронных компонентов в соответствии с уровнями их стойкости. Описаны параметры проводимых экспериментов, способные повлиять на результаты определения порогов деградации, такие как частота следования импульсов напряжения и температура окружающей среды.

Ключевые фразы: СТОЙКОСТЬ, катастрофический отказ, преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия, радиочастотные помехи, БЕСПИЛОТНОЕ ТРАНСПОРТНОЕ СРЕДСТВО, электронный компонент, ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ ТРАНСПОРТНАЯ СИСТЕМА, критическая информационная инфраструктура, электрическое перенапряжение
Автор (ы): Шемонаев Александр Николаевич (SHemonaev A. N.), Парфенов Юрий Вячеславович (Parfenov Y. V.), Епифанцев Константин Алексеевич (Epifantsev K. A.), Титов Борис Анатольевич (Titov B. A.), Чепелев Владимир Михайлович (CHepelev V. M.), Кессаринский Леонид Николаевич (Kessarinskiy L. N.), Пончаков Михаил Юрьевич (Ponchakov M. Y.)
Журнал: БЕЗОПАСНОСТЬ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Информатика
УДК
004.056. Безопасность, защищённость данных
621.382. Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
629.331. Автомобили. Автомобильный транспорт
Для цитирования:
ШЕМОНАЕВ А. Н., ПАРФЕНОВ Ю. В., ЕПИФАНЦЕВ К. А., ТИТОВ Б. А., ЧЕПЕЛЕВ В. М., КЕССАРИНСКИЙ Л. Н., ПОНЧАКОВ М. Ю. МЕТОД ВЫЯВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОВ ДЕГРАДАЦИИ В ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТАХ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ИМПУЛЬСОВ НАПРЯЖЕНИЯ // БЕЗОПАСНОСТЬ ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ. 2026. № 1, ТОМ 33
Текстовый фрагмент статьи