Статья: Особенности адмиттанса МДП структур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe (x = 0,30) (2018)

Читать онлайн

В широком диапазоне условий измерения экспериментально исследован адмиттанс МДПструктур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe/Si(013) с приповерхностным варизонным слоем с повышенным содержанием CdTe и без такого слоя, причем при использовании в качестве диэлектрика Al2O3 и CdTe/Al2O3. Показано, что вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДПструктур на основе МЛЭ p-Hg0,70Cd0,30Te без варизонного слоя при 77 К имеют высокочастотный вид относительно времени перезарядки быстрых поверхностных состояний. Это позволяет определять концентрацию дырок по значению емкости в минимуме низкочастотной ВФХ при 77 К (в отличие от случая x = 0,21–0,23). Установлено, что для МДП-структуры на основе p-HgCdTe с варизонным слоем значения дифференциального сопротивления области пространственного заряда в режиме сильной инверсии в 10–100 раз больше, чем для МДПструктуры на основе p-HgCdTe без такого слоя.

In a wide range of temperatures and frequencies, the admittance of MIS-structures based on MBE p-Hg0.70Cd0.30Te/Si(013) with different dielectrics and different composition distributions in the nearsurface region has been investigated. It has been established that the capacitance-voltage characteristics (at 77 K) of the MIS structures based on MBE p-Hg0.70Cd0.30Te without a graded-gap layer has high-frequency behavior relatively to the time of charge exchange of fast surface states (in contrast to the case of x = 0.21–0.23). It is shown that for a structure with a graded-gap layer, the value of the differential resistance of space-charge region is 10–100 times greater than for a structure without a gradedgap layer. This result is not obvious and can be explained by an increase in the width of the band gap near the surface, as well as by a decrease in defectiveness in the near-surface layer of HgCdTe when the CdTe layer is grown.

Ключевые фразы: HgCdTe, молекулярно-лучевая эпитаксия, МДП-структура, варизонный слой, адмиттанс, вольт-фарадная характеристика
Автор (ы): Войцеховский Александр Васильевич, Несмелов Сергей Николаевич, Дзядух Станислав Михайлович, Варавин Василий Семенович, Дворецкий Сергей Алексеевич, Михайлов Николай Николаевич, Якушев Максим Витальевич, Сидоров Георгий Юрьевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
22712954
Для цитирования:
ВОЙЦЕХОВСКИЙ А. В., НЕСМЕЛОВ С. Н., ДЗЯДУХ С. М., ВАРАВИН В. С., ДВОРЕЦКИЙ С. А., МИХАЙЛОВ Н. Н., ЯКУШЕВ М. В., СИДОРОВ Г. Ю. ОСОБЕННОСТИ АДМИТТАНСА МДП СТРУКТУР НА ОСНОВЕ МЛЭ P-HG1-XCDXTE (X = 0,30) // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №3
Текстовый фрагмент статьи