1. Turing A. Programmers’ Handbook for the Manchester Electronic Computer Mark II. Manchester : Computing Laboratory University of Manchester, 1951.
2. Бобнев М.П. Генерирование случайных сигналов и измерение их параметров. Москва : Энергия, 1966.
3. NIST Statistical Test Suite. URL: https://csrc.nist.gov/projects/random-bit generation/documentation-and-software
4. Димаки А.В., Светлаков А.А. Аппаратно-программный генератор случайных чисел, сопрягаемый с компьютером типа IBM PC // Известия Томского политехнического университета. 2004. Т. 307, № 1. C. 144–148.
5. Султанов Р.О., Лопатин Д.В. Аппаратный генератор случайных чисел // Гуадеамус. 2013. № 2(22). C. 156–158.
6. Слеповичев И.И. Генераторы псевдослучайных чисел. Саратов : СГУ, 2017.
7. Горлов М., Смирнов Д. Способы разделения полупроводниковых изделий по надежности // Производство электроники: технологии, оборудование, материалы. 2010. № 7. C. 39–42.
8. Барановский О.К., Горбадей О Ю., Зеневич А.О. Исследование возможности использования лавинных фотодиодов в режиме одноквантовой регистрации для создания квантовых генераторов случайных чисел // Приборы и техника эксперимента. 2018. № 1. C. 34–38.
9. Пикуза М.О., Михневич С.Ю. Тестирование аппаратного генератора случайных чисел при помощи набора статистических тестов NIST // Доклады БГУИР. 2021. Т. 19, № 4. C. 37–42.
10. Буслюк В.В., Ворончук С.И., Лешкевич И.В. Режимы применения кремниевых генераторных диодов для создания широкополосного шума // Минск, 5-ая Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники». 2012. C. 24–27.
11. Ewert M. A Random Number Generator Based on Electronic Noise and the Xorshift Algorithm // Proceedings of the VII International Conference on Network, Communication and Computing. 2018. P. 357–362.
12. Kote V., Molata V., Jakovenko J. Improved Structure of True Random Number Generator with Direct Amplification of Analog Noise // Electroscope. 2012. V. 6.
13. Kote V., Vacula P., Molata V. [et al.]. True Random Number Generator with Time Multiplexed Sources of Randomness // Radioengineering. 2018. V. 27, N 3. P. 796–805.
14. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах. Москва : Мир, 1986.
15. Горлов М.И., Емельянов А.В., Смирнов Д.Ю. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума // Компоненты и технологии. 2005. № 8. С. 198–201.
16. Горлов М.И. Николаева Е.П. Общие закономерности технологического процесса производства полупроводниковых изделий. Воронеж : ВГТУ, 2002.
17. Воробьёв М.Д., Чирков М.Н., Чубаров В.В., Юдаев Д.Н. Электрофлуктуационная диагностика эмитирующей поверхности термокатодов // Электронная техника. 2012. Cер. 1. СВЧ-техника. Bып. 1(512). С. 38–50.
18. Якимов А.В. Физика шумов и флуктуаций параметров. Нижний Новгород : Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского (НИУ), 2013.
19. Разуменко Д. Низкочастотные шумы электронных компонентов как инструмент для диагностики внутренних дефектов // Компоненты и технологии. 2008. № 9. C. 168–174.
20. Дулов О.А., Сергеев В.А., Широков А.А. Контроль качества мощных ВЧ и СВЧ биполярных транзисторов по температурным зависимостям шумовых параметров // Известия Самарского научного центра РАН. 2008. Т. 10, № 3. C. 739-743.
21. Конторович М.Л., Черторийский А.А., Широков А.А. Электрофлуктуационный метод оценки качества биполярных транзисторных структур // Известия Самарского научного центра РАН. 1999. № 2. С. 167–173.
22. Воробьёв М.Д., Юдаев Д.Н. Разработка и практическое использование метода структурно-шумового анализа эмитируюших поверхностей твердых тел // Сборник трудов конференции «Современные технологии в науке и образовании». 2018. Т. 2. С. 8–13.
23. Ходаков А.М. Распределение плотности тока и температуры в биполярных транзисторных структурах с дефектами в активной области // Известия Самарского научного центра РАН. 2005. Т. 7, № 2. С. 352–357.
24. Воробьёв М.Д., Кумов Я.С., Чудин В.Г., Юдаев Д.Н. Низкочастотные шумы, создаваемые дефектами эмитирующей поверхности термоэлектрических катодов. Сборник трудов конференции «Современные технологии в науке и образовании». 2016. Т. 2. С. 167–170.
25. Тураев А.А. Особенности температурной чувствительности транзисторной структуры в двухполюсном режиме // Colloquim-jornal. 2019. № 3(27). C. 71–74.
26. Herrero-Collantes M., Garcia Escartin J.C. Quantum Random Number Generators // Reviews of Modern Physics. 2017. V. 89, I. 1. P. 1–54.
27. Holler E., Wolf D. Bistable Current Fluctuations in Reverse-Biased p-n Junctions of Germanium // Journal of applied physics. 1967. V. 38. P. 189–192.