Публикации автора

СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП ВЕГА - СИСТЕМА ДЛЯ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ (2022)

Изложены возможности нового прибора разработки Компании ООО «НТ-МДТ» - сканирующего зондового микроскопа «ВЕГА», способного работать с образцами размером до 200х200х40 мм с предельным для атомно-силовой микроскопии разрешением для исследования свойств и метрологического контроля поверхностных наноструктур микро и наноэлектроники.

Издание: ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ ПЕРСПЕКТИВНЫХ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ (МЭС)
Выпуск: № 3 (2022)
Автор(ы): Быков В. А., Быков А. В., Бобров Ю. А., Котов В. В., Леесмент С. И., Поляков В. В.
Сохранить в закладках