Поиск
Библиотека
421
Журналы
10
Организации
4
Научно-исследовательские
Образовательные
Издательства
Библиотеки
Репозитории
Конференции
Блоги
Сообщество
Поиск людей
Группы
Форум
Формулы
Вход
Найти:
Алеев Рафиль Мухтарович
Aleev Rafil Muhtarovich
Статусы
Автор
Место работы
КФУ
ОНП
semiconductor wafer
,
surface roughness
,
method for monitoring contamination
,
полупроводниковая пластина
,
шероховатость поверхности
,
метод контроля загрязнения
Учёная степень
Доктор наук
Академия
Российская академия наук (РАН)
SciID
0000018616
SPIN-код
1538-1195
РИНЦ Author ID
797681
Город
Набережные Челны
Заходил
показать
Подробнее
Работы
1
Библиотека
0
Блог
0
Конференции
0
Группы
0
Контакты
0
Работы Алеева Р. М.:
новые поступления
Статья
Метод контроля загрязнения поверхности п…
Постов пока нет
Скоро владелец страницы опубликует здесь свои посты.
Доступ к этим данным разрешён только авторизованным пользователям.
Функция добавления в закладки доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция отправки личных сообщений доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция оценок доступна только для авторизованных пользователей. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.
Функция добавления в контакты доступна только авторизованным пользователям. Зарегистрируйтесь или войдите в свой аккаунт.