Архив статей

Кристаллографический анализ гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути (2014)
Выпуск: №6 (2014)
Авторы: Сизов А. Л., Мирофянченко А. Е., Ляликов А. В., Яковлева Н. И.

Для кристаллографического анализа гетероэпитаксиальных структур теллурида кадмия-ртути использованы высокоточные методы микроскопии высокого разрешения, рентгеновской дифрактометрии, энергодисперсионного и микрорентгеновского анализа. Определен количественный состав химических компонентов внутри области структурного V-дефекта. Определены значения углов Брэгговского отражения, которые составили 47,1—47,5 градуса, и полуширины кривой качания, которая по измеренным образцам составила 74˝.

Сохранить в закладках