Доклад: Исследование барьерно-диодных структур с помощью микроскопии сопротивления растекания тока.

Докладчик
Автор(ы)
Минаев И.И., Клековкин А.В., Ерошенко Г.Н., Свиридов Д.Е., Савин К.А., Кривобок В.С., Николаев С.Н..
Тип доклада
Устный

Статистика доклада

Статистика просмотров за 2026 год.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Другие доклады секции: 20
12:00 | Перерыв
14:00 | Обед
16:15 | Исследование барьерно-диодных структур с помощью микроскопии сопротивления растекания тока.