Доклад: Исследование барьерно-диодных структур с помощью микроскопии сопротивления растекания тока.

Докладчик
Автор(ы)
Минаев И.И., Клековкин А.В., Ерошенко Г.Н., Свиридов Д.Е., Савин К.А., Кривобок В.С., Николаев С.Н..
Тип доклада
Устный
Секция программы
секция не определена

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.