Доклад: Гиперзвуковая микроскопия как метод локального контроля параметров структуры эпитаксиальных сверхрешеток.
Докладчик
Соавтор(ы)
Клоков А. Ю., Шарков А. И., Кривобок В. С., Клековкин А. В., Ерошенко Г. Н., Минаев И. И.
Тип доклада
Устный
Конференция
Секция программы
Дата и время
четверг, 28 мая (начало в 11:30)
Статистика доклада
Статистика просмотров за 2026 год.
Обсуждение доклада
Новых тем пока нет
Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.
Другие доклады секции: 9
09:00 |
Применение нейросетевых методов для контроля параметров оптических систем
Зарипов Шамиль Ильнурович•АО ″НПО ″ОРИОН″
Зарипов Шамиль Ильнурович•АО ″НПО ″ОРИОН″
09:15 |
Электрохимическое вольт-фарадное профилирование как эффективный метод диагностики полупроводниковых структур на основе GaP
Ивкин Леонид Игоревич•СПБГЭТУ ЛЭТИ
Ивкин Леонид Игоревич•СПБГЭТУ ЛЭТИ
09:35 |
Повышение яркости источников, запутанных по поляризации бифотонов на основе спонтанного параметрического преобразования методами компенсации декогеренции.
Дёмин Андрей Васильевич•ВНИИОФИ
Дёмин Андрей Васильевич•ВНИИОФИ
09:55 |
Направления развития метрологического обеспечения инфракрасных и ультрафиолетовых фотоприемников и фотоприемных устройств первого и второго поколений
Лобачев Антон Васильевич•АО ″НПО ″ОРИОН″
Лобачев Антон Васильевич•АО ″НПО ″ОРИОН″
10:15 |
Сравнительный анализ методов визуализации для прочтения утраченных текстов на пергаменных рукописях
Лепехина Татьяна Константиновна•СПБГЭТУ ЛЭТИ
Лепехина Татьяна Константиновна•СПБГЭТУ ЛЭТИ
10:55 |
Эталонная установка ВНИИОФИ для калибровки приемников излучения дальнего инфракрасного диапазона
Дунаев Александр Юрьевич•ВНИИОФИ
Дунаев Александр Юрьевич•ВНИИОФИ
11:15 |
Измерение функции рассеяния точки в оптико-электронной системе ИК диапазона по изображениям субпиксельного тест-объекта, формируемым «смотрящей» матрицей
Богачев Артем Дмитриевич•УРАЛ-ГЕОФИЗИКА
Богачев Артем Дмитриевич•УРАЛ-ГЕОФИЗИКА
11:30 |
Гиперзвуковая микроскопия как метод локального контроля параметров структуры эпитаксиальных сверхрешеток.
11:45 |
Продвинутые методы контроля интегрального коэффициента пропускания оптических элементов на основе матричных приемников излучения
Машошин Денис•АО ″НПО ″ОРИОН″
Машошин Денис•АО ″НПО ″ОРИОН″
12:00 |
Перерыв