Доклад: Измерение функции рассеяния точки в оптико-электронной системе ИК диапазона по изображениям субпиксельного тест-объекта, формируемым «смотрящей» матрицей

Написать

В расписание

Докладчик

Богачев Артем Дмитриевич

УРАЛ-ГЕОФИЗИКА

Автор(ы)

Богачев А.Д., Винецкий Ю.Р.

Тип доклада

Устный

Конференция

XXVIII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и системам технического зрения

Секция программы

Секция 3. Системы и методы измерений

Дата и время

четверг, 28 мая (начало в 11:15)

Статистика доклада

Статистика просмотров за 2026 год.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения

Другие доклады секции: 9

09:00 | Применение нейросетевых методов для контроля параметров оптических систем

Зарипов Шамиль Ильнурович•АО ″НПО ″ОРИОН″

09:15 | Электрохимическое вольт-фарадное профилирование как эффективный метод диагностики полупроводниковых структур на основе GaP

Ивкин Леонид Игоревич•СПБГЭТУ ЛЭТИ

09:35 | Повышение яркости источников, запутанных по поляризации бифотонов на основе спонтанного параметрического преобразования методами компенсации декогеренции.

Дёмин Андрей Васильевич•ВНИИОФИ

09:55 | Направления развития метрологического обеспечения инфракрасных и ультрафиолетовых фотоприемников и фотоприемных устройств первого и второго поколений

Лобачев Антон Васильевич•АО ″НПО ″ОРИОН″

10:15 | Сравнительный анализ методов визуализации для прочтения утраченных текстов на пергаменных рукописях

Лепехина Татьяна Константиновна•СПБГЭТУ ЛЭТИ

10:35 | Релаксация носителей зарядов в сильнолегированном кремнии, исследованная методом оптической накачки и терагерцового зондирования

Подлесных Иван Михайлович•ФИАН

10:55 | Эталонная установка ВНИИОФИ для калибровки приемников излучения дальнего инфракрасного диапазона

Дунаев Александр Юрьевич•ВНИИОФИ

11:15 | Измерение функции рассеяния точки в оптико-электронной системе ИК диапазона по изображениям субпиксельного тест-объекта, формируемым «смотрящей» матрицей

Богачев Артем Дмитриевич•УРАЛ-ГЕОФИЗИКА

11:30 | Гиперзвуковая микроскопия как метод локального контроля параметров структуры эпитаксиальных сверхрешеток.

Фролов Николай Юрьевич•ФИАН

11:45 | Продвинутые методы контроля интегрального коэффициента пропускания оптических элементов на основе матричных приемников излучения

Машошин Денис•АО ″НПО ″ОРИОН″

12:00 | Перерыв