Найти:

Доклад: Эталонная установка ВНИИОФИ для калибровки приемников излучения дальнего инфракрасного диапазона

Написать
В расписание
Поделиться
Докладчик
Дунаев Александр Юрьевич
ВНИИОФИ
Автор(ы)
Дунаев А.Ю., Ерикова А.А., Довгилов Н.Л.
Тип доклада
Устный
Конференция
XXVIII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и системам технического зрения
Секция программы
Секция 3. Системы и методы измерений
Дата и время
четверг, 28 мая (начало в 10:55)

Статистика доклада

Статистика просмотров за 2026 год.

Обсуждение доклада

Новых тем пока нет

Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.

Создать тему обсуждения
Другие доклады секции: 9
09:00 | Применение нейросетевых методов для контроля параметров оптических систем
Зарипов Шамиль Ильнурович•АО ″НПО ″ОРИОН″
09:15 | Электрохимическое вольт-фарадное профилирование как эффективный метод диагностики полупроводниковых структур на основе GaP
Ивкин Леонид Игоревич•СПБГЭТУ ЛЭТИ
09:35 | Повышение яркости источников, запутанных по поляризации бифотонов на основе спонтанного параметрического преобразования методами компенсации декогеренции.
Дёмин Андрей Васильевич•ВНИИОФИ
09:55 | Направления развития метрологического обеспечения инфракрасных и ультрафиолетовых фотоприемников и фотоприемных устройств первого и второго поколений
Лобачев Антон Васильевич•АО ″НПО ″ОРИОН″
10:15 | Сравнительный анализ методов визуализации для прочтения утраченных текстов на пергаменных рукописях
Лепехина Татьяна Константиновна•СПБГЭТУ ЛЭТИ
10:35 | Релаксация носителей зарядов в сильнолегированном кремнии, исследованная методом оптической накачки и терагерцового зондирования
Подлесных Иван Михайлович•ФИАН
10:55 | Эталонная установка ВНИИОФИ для калибровки приемников излучения дальнего инфракрасного диапазона
Дунаев Александр Юрьевич•ВНИИОФИ
11:15 | Измерение функции рассеяния точки в оптико-электронной системе ИК диапазона по изображениям субпиксельного тест-объекта, формируемым «смотрящей» матрицей
Богачев Артем Дмитриевич•УРАЛ-ГЕОФИЗИКА
11:30 | Гиперзвуковая микроскопия как метод локального контроля параметров структуры эпитаксиальных сверхрешеток.
Фролов Николай Юрьевич•ФИАН
11:45 | Продвинутые методы контроля интегрального коэффициента пропускания оптических элементов на основе матричных приемников излучения
Машошин Денис•АО ″НПО ″ОРИОН″
12:00 | Перерыв