Доклад: Применение методики послойного сканирования для анализа качества разварки внутрикорпусных соединений при производстве интегральных микросхем
Докладчик
Голицын Александр АндреевичИФП СО РАН
Тип доклада
Устный
Секция программы
секция не определена
Обсуждение доклада
Новых тем пока нет
Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.