Статья: К вопросу о выделении контура изображения посредством дифракции в первый порядок (2010)

Рассмотрена симметричная модель двухкомпонентной плазмы и рассчитаны распределения электрических микрополей, действующих на заряженные и нейтральные частицы с помощью метода молекулярной динамики при фиксированной температуре T = 30 000 K, и различных величин параметра неидеальности 0,2 ≤ Г ≤ 1,2. Обсуждены изменения этих распределений в зависимости от Г. Особое внимание уделено поведению хвостов распределений. Показано, что поведение этих хвостов в нейтральной точке согласуется с хвостами распределения Хольцмарка, тогда как хвосты распределений на заряде значительно толще и характеризуются степенным показателем, изменяющимся в пределах от –2,2 до –1,8 с увеличением Г.

Рассмотрена система спектрального и поляризационного анализа изображений на основе перестраиваемого акустооптического фильтра. Использована особая геометрия дифракции Брэгга в парателлурите, при которой ортогонально поляризованные компоненты светового поля рассеиваются в противоположные дифракционные порядки. Для сравнения интенсивностей пучков с различной поляризацией применяется одновременная регистрация +1 и –1 порядков дифракции.

Показано, что реакция слияния ядер в холодном водороде протекает благодаря образованию метастабильных атомов динейтрония, представляющих собой связанное состояние двух нейтронов и одного нейтрино. Дана оценка массы, размеров и времени жизни атомов динейтрония, образующихся в результате взаимодействия атомов дейтерия со свободными или квазисвободными электронами.

Для систем, находящихся под воздействием энтростата, показана возможность возникновения энтропийных колебаний в нелинейных процессах.

Проанализирован коэффициент рассеяния низкочастотного электромагнитного поля на сферической оболочке, находящейся в слабопроводящей среде.

Определены сечения комптоновского рассеяния во внешнем однородном и стационарном электрическом поле в нерелятивистском (по движению электронов) борновском приближении. Показано, что найденные сечения могут заметно отличаться от сечения рассеяния фотонов на изолированном электроне и зависят от взаимного расположения точки отражения электрона от потенциального барьера внешнего поля и области пространства, где происходит рассеивание фотонов.