1. Ubar R., Raik J., Vierhaus H.-T. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source). Information Science Reference, Hershey - N. Y.: IGI Global, 2011. 578 p.
2. Дрозд А. В., Харченко В. С., Антощук С. Г., Дрозд Ю. В., Дрозд М. А., Сулима Ю. Ю. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем / Под ред. А. В. Дрозда и В. С. Харченко. Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т им. Н. Е. Жуковского.,ХАИ“, 2012. 614 с.
3. Drozd O., Antoniuk V., Nikul V., Drozd M. Hidden faults in FPGA-built digital components of safety-related systems // Proc. of the 14th Intern. Conf. on Advanced Trends in Radioelecrtronics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET), Lviv-Slavsko, Ukraine, 20-24 Febr. 2018. P. 805-809. DOI: 10.1109/TCSET.2018.8336320 EDN: VBNHEL
4. Drozd O., Perebeinos I., Martynyuk O., Zashcholkin K., Ivanova O., Drozd M. Hidden Fault Analysis of FPGA Projects for Critical Applications // Proc. of the IEEE Intern. Conf. on Advanced Trends in Radioelectronics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET), Lviv-Slavsko, Ukraine, 25-29 Febr. 2020. Paper 142. DOI: 10.1109/TCSET49122.2020.235591
5. Пархоменко П. П., Согомонян Е. С. Основы технической диагностики (оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства). М.: Энергоатомиздат, 1981. 320 с.
6. Согомонян Е. С., Слабаков Е. В. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы. М.: Радио и связь, 1989. 208 с.
7. Mitra S., McCluskey E. J. Which Concurrent Error Detection Scheme to Сhoose? // Proc. of Intern. Test Conf. Atlantic City, NJ, 03-05 Oct. 2000. P. 985-994. DOI: 10.1109/TEST.2000.894311
8. Багхдади А. А. А., Хаханов В. И., Литвинова Е. И. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) // Автоматизированные системы управления и приборы автоматики. 2014. № 166. С. 59-74.
9. Piestrak S. J. Design of Self-Testing Checkers for Unidirectional Error Detecting Codes. Wrocław: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocłavskiej, 1995. 111 p.
10. Gangopadhyay D., Reyhani-Masoleh A. Multiple-Bit Parity-Based Concurrent Fault Detection Architecture for Parallel CRC Computation // IEEE Trans. on Computers. 2016. Vol. 65, iss. 7. P. 2143-2157. DOI: 10.1109/TC.2015.2479617
11. Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды с суммированием для систем технического диагностирования. Т. 1. Классические коды Бергера и их модификации. М.: Наука, 2020. 383 с. EDN: GGAYJS
12. Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды с суммированием для систем технического диагностирования. Т. 2. Взвешенные коды с суммированием. М.: Наука, 2021. 455 с. EDN: KIHERR
13. Bayat-Sarmadi S., Hasan M. A. On Concurrent Detection of Errors in Polynomial Basis Multiplication // IEEE Trans. on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 2007. Vol. 15. P. 413-426. DOI: 10.1109/TVLSI.2007.893659
14. Qiu W., Zhang X., Li H., Wang Z., Zhang Y., Zheng Z. Concurrent All-Cell Error Detection in Semi-Systolic Multiplier Using Linear Codes // Applied Mathematics and Information Sciences. 2013. Vol. 7, N 3. P. 947-954.
15. Tshagharyan G., Harutyunyan G., Shoukourian S., Zorian Y. Experimental Study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications // Proc. of the 15th IEEE East-West Design and Test Symp. (EWDTS’2017), Novi Sad, Serbia, Sept. 29 - Oct. 2, 2017. P. 25-28. DOI: 10.1109/EWDTS.2017.8110065
16. Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Ефанов Д. В. Коды Хэмминга в системах функционального контроля логических устройств. СПб: Наука, 2018. 151 с. EDN: VSFGDG
17. Гессель М., Дмитриев А. В., Сапожников В. В, Сапожников Вл. В. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах // Автоматика и телемеханика. 1999. № 11. С. 162-174. EDN: OKENAD
18. Гессель М., Дмитриев А. В., Сапожников В. В, Сапожников Вл. В. Обнаружение неисправностей в комбинационных схемах с помощью самодвойственного контроля // Автоматика и телемеханика. 2000. № 7. С. 140-149. EDN: OFOAVF
19. Efanov D., Sapozhnikov V., Sapozhnikov Vl., Osadchy G., Pivovarov D. Self-Dual Complement Method up to Constant-Weight Codes for Arrangement of Combinational Logical Circuits Concurrent Error-Detection Systems // Proc. of the 17th IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2019), Batumi, Georgia, 13-16 Sept., 2019. P. 136-143. DOI: 10.1109/EWDTS.2019.8884398 EDN: GXLEWV
20. Ефанов Д. В., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Пивоваров Д. В. Метод функционального контроля комбинационных логических устройств на основе самодвойственного дополнения до равновесных кодов // Электронное моделирование. 2020. Т. 42, № 3. С. 27-52. DOI: 10.15407/emodel.42.03.027 EDN: SSVIFK
21. Sogomonyan E. S., Gössel M. Design of Self-Testing and On-Line Fault Detection Combinational Circuits with Weakly Independent Outputs //j. of Electronic Testing: Theory and Applications. 1993. Vol. 4, iss. 4. P. 267-281. DOI: 10.1007/BF00971975 EDN: PSBPMD
22. Busaba F. Y., Lala P. K. Self-Checking Combinational Circuit Design for Single and Unidirectional Multibit Errors //j. of Electronic Testing: Theory and Applications. 1994. Iss. 1. P. 19-28. DOI: 10.1007/BF00971960
23. Matrosova A. Yu., Ostanin S. A. Self-Checking Synchronous Sequential Circuit Design for Unidirectional Error // Proc. of the IEEE European Test Workshop (ETW’98), Sitges, Barcelona, Spain, 27-29 May 1998.
24. Morosow A., Saposhnikov V. V., Saposhnikov Vl. V., Goessel M. Self-Checking Combinational Circuits with Unidirectionally Independent Outputs // VLSI Design. 1998. Vol. 5, iss. 4. P. 333-345. DOI: 10.1155/1998/20389 EDN: LFCPZB
25. Efanov D. V., Sapozhnikov V. V., Sapozhnikov Vl. V. Organization of a Fully Self-Checking Structure of a Combinational Device Based on Searching for Groups of Symmetrically Independent Outputs // Automatic Control and Computer Sciences. 2020. Vol. 54, iss. 4. P. 279-290. DOI: 10.3103/S0146411620040045 EDN: ZXEBEY
26. Микони С. В. Общие диагностические базы знаний вычислительных систем. СПб: СПИИРАН, 1992. 234 с.
27. Efanov D. V., Pivovarov D. V. The Hybrid Structure of a Self-Dual Built-In Control Circuit for Combinational Devices with Pre-Compression of Signals and Checking of Calculations by Two Diagnostic Parameters // Proc. of the 19th IEEE East-West Design & Test Symp. (EWDTS’2021), Batumi, Georgia, 10-13 Sept., 2021. Р. 200- 206. DOI: 10.1109/EWDTS52692.2021.9581019 EDN: HMIWTK
28. Efanov D. V., Sapozhnikov V. V., Sapozhnikov Vl. V. Organization of Testing of Combinational Devices Based on Boolean Complement to Constant-Weight “1-out-of-4” Code with Signal Compression // Automatic Control and Computer Sciences. 2021. Vol. 55, iss. 2. P. 113-124. DOI: 10.3103/S014641162102005X EDN: VWTTTW
29. Ефанов Д. В., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В. Организация схем встроенного контроля на основе метода логического дополнения с предварительным преобразованием рабочих функций в контрольные векторы кодов Бергера // Информационные технологии. 2021. Т. 27, № 6. С. 306-313. DOI: 10.17587/it.27.306-313 EDN: CCVVFD
30. Nikolos D. Self-Testing Embedded Two-Rail Checkers // Ch. 7 in OnLine Testing for VLSI. 1998. P. 69-79. DOI: 10.1007/978-1-4757-60-69-9_7
31. Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Гессель М. Самодвойственные дискретные устройства. СПб: Энергоатомиздат, 2001. 331 с. EDN: TZFCWL
32. Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Валиев Р. Ш. Синтез самодвойственных дискретных систем. СПб: Элмор, 2006. 220 с. EDN: QMQCNP
33. Göessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E., Marienfeld D. New Methods of Concurrent Checking. Dordrecht: Springer Science+Business Media B.V., 2008. 184 p.
34. Carter W. C., Duke K. A., Schneider P. R. Self-Checking Error Checker for Two-Rail Coded Data / United States Patent N 747533, 1971. Jan. 26.
35. Сапожников В. В., Сапожников В. В. Самопроверяемые дискретные устройства. СПб: Энергоатомиздат, 1992. 224 с. EDN: UGZVWP
36. Ефанов Д. В., Сапожников В. В., Сапожников Вл. В., Осадчий Г. В. Синтез схем встроенного контроля на основе метода логического дополнения с предварительным сжатием сигналов рабочих функций // Вестник Томск. гос. ун-та. Управление, вычислительная техника и информатика. 2021. № 1. С. 97-115. DOI: 10.17223/19988605/54/12 EDN: GTXXAO
37. Efanov D. V., Sapozhnikov V. V., Sapozhnikov Vl. V., Pivovarov D. V. Synthesis of Built-in Self-Test Control Circuits Based on the Method of Boolean Complement to Constant-Weight 1-out-of-n Codes // Automatic Control and Computer Sciences. 2019. Vol. 53, iss. 6. P. 481-491. DOI: 10.3103/S014641161906004X EDN: NJKSFE
38. Drozd A., Kharchenko V., Antoshchuk S., Sulima J., Drozd M. Checkability of the Digital Components in Safety- Critical Systems: Problems and Solutions // Proc. of the 9th IEEE East-West Design & Test Symp. (EWDTS’2011), Sevastopol, Ukraine, 2011. P. 411-416. DOI: 10.1109/EWDTS.2011.6116606 EDN: XMZNNN
39. Сапожников Вл. В. Синтез систем управления движением поездов на железнодорожных станциях с исключением опасных отказов. М.: Наука, 2021. 229 с. EDN: KCHOWR