В работе рассмотрены основные источники металлических примесей, ухудшающих темновые токи кремниевых фотодиодов. С использованием методов спектрального, нейтронно-активационного анализа (НАА) и электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) показано, что основным источником примеси переходных элементов, прежде всего железа, является газовая атмосфера реактора, которая загрязняется из аппаратуры для проведения термодиффузионных процессов. Также установлено, что концентрационные профили межузельного железа, полученные методом ЭПР, и термодоноров в кремнии р-типа близки, что свидетельствует об основной роли Fe i 0 в образовании последних. Применение двухстенных реакторов, операций геттерирования примесей и медленного охлаждения образцов после высокотемпературных операций позволяет существенно снизить темновые токи фотодиодов.
This article presents data about sources metal impurities, which is a reason large dark current in silicon photodiodes. In order to establish the transition metal impurities source neutron activation analysis (NAA) and electron paramagnetic resonance EPR were carried out in present study. It is established, that diffusion furnace heater is the source transition metal impurities, especially iron, in reactor gas ambient and consequently silicon samples after heat treatment. It is demonstrated, that concentrations profiles iron and thermodonors in p-silicon are similar. Impurities gettering, chlorine contain ambient and slow cooling samples after heat treatment are the tool for reduction photodiodes dark current
Предпросмотр статьи
Идентификаторы и классификаторы
- SCI
- Физика
- eLIBRARY ID
- 21249766
Если у вас возникли вопросы или появились предложения по содержанию статьи, пожалуйста, направляйте их в рамках данной темы.