Статья: Управление качеством полупроводниковых монокристаллов на основе анализа данных производственного контроля (2025)

Читать онлайн

Проведен анализ данных контроля легированных теллуром монокристаллов GaAs, выращенных методом Чохральского. Оценка соответствия распределения параметров материала и процесса выращивания монокристаллов GaAs нормальному распределению Гаусса проведена в соответствии с критериями асимметрии и Смирнова. Характеристика степени зависимости в системе «параметры материала-параметры процесса» оценивалась на основе градации величин парного коэффициента корреляции (|rxy|  0,013–0,420). Между фактическими и прогнозируемыми результатами наблюдалось существенное расхождение, коэффициент корреляции R варьировался в диапазоне 0,23–0,47. Показано, что для получения высокой подвижности свободных носителей заряда при низкой плотности структурных дефектов (Nd < 1,8104 см-2) необходимо обеспечить конвективное перемешивание расплава при плоском фронте кристаллизации.

A retrospective analysis of a production control database for growing tellurium-doped GaAs single crystals using the Czochralski method was conducted. The asymmetry and Smirnov criteria were used to evaluate the normal distribution of material and process parameters. The strength of the relationship between material parameters and process parameters was assessed using the gradation of the paired correlation coefficient |rxy|  0.013–0.420). A significant discrepancy was observed between the actual and predicted results within the regression model (the correlation coefficient R varied in the range of 0.23–0.47). Using cognitive graphics techniques, it was shown that convective mixing of the melt with a flat crystallization front is necessary to achieve high free carrier mobility at a low density of structural defects (Nd < 1.8104 cm-2).

Ключевые фразы: метод Чохральского, aiiibv, GaAs, анализ баз данных производственного контроля, статистика
Автор (ы): Комаровский Никита Юрьевич, Князев Станислав Николаевич, Трофимов Александр Александрович, Савиных Екатерина Александровна, Соколовская Элина, Кудря Александр
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
Для цитирования:
КОМАРОВСКИЙ Н. Ю., КНЯЗЕВ С. Н., ТРОФИМОВ А. А., САВИНЫХ Е. А., СОКОЛОВСКАЯ Э., КУДРЯ А. УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ НА ОСНОВЕ АНАЛИЗА ДАННЫХ ПРОИЗВОДСТВЕННОГО КОНТРОЛЯ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2025. №6
Текстовый фрагмент статьи